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循環(huán)測試-判定間歇性故障元器件更準確
采用無條件或有條件循環(huán)測試模式,能夠找到間歇性故障點和由溫度引起的故障,并顯示單個管腳的診斷信息.
集成電路測試儀簡介:
可測元器件包含TTL系列,CMOS,存儲器,大規(guī)模集成電路,接口芯片以及其它多達40管腳的器件,不斷擴充的多達上千種元器件庫,元器件庫可以自行編程擴充升級.
特點：
·操作簡單方便
·內(nèi)置元器件庫可擴充升級
·未知IC型號查找
·顯示單個管腳故障診斷信息
·元件代換查詢
·可選SOIC和PLCC適配座
·可選編程軟件與PC實時通訊測試
·電池與直流供電
·可以選擇不同封裝的測試座
功能:
Single-對測試座上的IC進行單次測試.
Loop-無論結(jié)果如何,重復進行測試
P Loop-若測試結(jié)果為PASS,重復進行測試
F Loop-若測試結(jié)果為FAIL,重復進行測試
Search-識別測試座上IC的型號
Diags-進行自我診斷測試
CmLink-進入CompactLink
了解詳細資料請點擊:集成電路測試儀http://www.ic168.com
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