1）適合模擬及數(shù)字集成電路的測(cè)試
2）可進(jìn)行在線或離線測(cè)試與分析
3）具有24路測(cè)試通道
4）**性高的無(wú)電源測(cè)量方式
5）矩陣式V-I曲線測(cè)試模式, 可針對(duì)管腳間的阻抗曲線進(jìn)行測(cè)試
6）在進(jìn)行離線測(cè)試時(shí), 可針對(duì)蕊片內(nèi)部進(jìn)行阻抗分析
7）自動(dòng)對(duì)比及儲(chǔ)存曲線,
8）可切換VI,VT及IT三種顯示模式, 可配合不同功能型式的FET元器件
9）可設(shè)定同步脈沖信號(hào)的寬度, 進(jìn)行可控規(guī)元器件或FET的功能測(cè)試
10）可進(jìn)行光耦合及繼電器元器件的速度功能測(cè)試
11）具有二組信號(hào)源, 可輸出直流信號(hào), 針對(duì)光耦合器及繼電器進(jìn)行穩(wěn)態(tài)測(cè)試.
12）并且顯示相似度百分比，具有業(yè)界中*多的信號(hào)頻率文件位, 對(duì)于故障的查找有相當(dāng)?shù)膸椭?
13）測(cè)試頻率高達(dá)到12kHz, 非常合適測(cè)試電感及高頻電容器件
14）本系統(tǒng)具備自動(dòng)信號(hào)補(bǔ)償功能, 可針對(duì)測(cè)試環(huán)境及夾具進(jìn)行自校測(cè)試, 以防止量測(cè)信號(hào)失真.
15）可由軟件來(lái)進(jìn)行維修日志的編寫(xiě)
16）可由軟件加入圖片, 用來(lái)清楚的表示量測(cè)位置及電路板樣式.
17）可選擇利用USB或PCI通訊接口來(lái)進(jìn)行儀器的操作, 也可安裝在PC內(nèi)來(lái)節(jié)省所占的空間.
18）強(qiáng)大的測(cè)試功能，操作簡(jiǎn)單易行
1）學(xué)習(xí)對(duì)比（適合集成電路測(cè)試）
學(xué)習(xí)：打開(kāi)存儲(chǔ)庫(kù)—增加n個(gè)測(cè)試模式-設(shè)定每種測(cè)試模式的測(cè)試條件（頻率、阻抗、波形、電壓）--學(xué)習(xí)—存儲(chǔ)
對(duì)比：打開(kāi)已經(jīng)學(xué)習(xí)過(guò)測(cè)試庫(kù)-選定好被測(cè)器件-對(duì)比-查看結(jié)果
2）探棒對(duì)比（適合分立器件及表面貼器件測(cè)試）
設(shè)定好測(cè)試條件（可以再測(cè)試過(guò)程中變化）—對(duì)比板上同位置的器件的差異
本功能葉可以學(xué)習(xí)對(duì)比測(cè)試。
3）矩陣測(cè)試（適合故障較難發(fā)現(xiàn)的器件）
學(xué)習(xí)：打開(kāi)存儲(chǔ)庫(kù)—增加n個(gè)測(cè)試模式-設(shè)定每種測(cè)試模式的測(cè)試條件（頻率、阻抗、波形、電壓）--選擇矩陣測(cè)試—學(xué)習(xí)—存儲(chǔ)
對(duì)比：打開(kāi)已經(jīng)學(xué)習(xí)過(guò)測(cè)試庫(kù)-選定好被測(cè)器件-對(duì)比-查看結(jié)果