如果將74LS125真值表（表1）里的“Z”改成“1”，則74LS125與74LS32在真值表上就沒有區(qū)
 別了。
 
     實(shí)際上數(shù)字IC功能測試儀正是這樣做的。讀者可以用此類儀器，在74LS125測試狀態(tài)下測試
 74LS32，會(huì)發(fā)現(xiàn)測試結(jié)果是通過（PASS），反之在74LS32測試狀態(tài)下測試74LS125，會(huì)發(fā)現(xiàn)測試結(jié)果
 也是通過（PASS）。而這兩種IC芯片毫無相同之處！原因就在于功能測試儀把“Z”當(dāng)作“1”來處
 理。顯然IC功能測試儀，對輸出有“三態(tài)”的IC測試無效！
 
    在SIMI-100儀器上進(jìn)行上述操作，就不會(huì)出現(xiàn)這個(gè)結(jié)果，原因是：SIMI-100對74LS125進(jìn)行了
 有效的“三態(tài)”漏電流測試。因此**不會(huì)將這兩種IC混為一談。
 
 3、由于數(shù)字IC功能測試儀不能進(jìn)行直流參數(shù)測試，因此無法進(jìn)行電源端功耗電流測試。許多功能相
 同但直流參數(shù)（芯片材料不同）不相同的數(shù)字IC，是不能替換使用的。比如COMS與TTL 芯片，通常在
 定型的電子產(chǎn)品中是不能替換使用的。
 
 例如：74LS00 與74HC00 電源端功耗電流相差甚大，在實(shí)際應(yīng)用中是不能替換使用的，而不測試電
 源端功耗電流就難以能識(shí)別這兩種IC。
 
     上述種種問題只是數(shù)字IC功能測試儀測試問題的一部分，還有例如：“OC”也是一種功能，
 “OC”門如何測試？功能測試儀是否也將管腳相同的“OC”門與非“OC”門混淆了呢？有些計(jì)數(shù)器
 的輸入端也是輸出端，對此類端口如何測試？雙向總線如何測試？等等。在此筆者不做探究。
 
 另外IC測試儀有具備下面兩個(gè)基本特征：
 
 1、 集成電路測試儀的測試（插座）管腳，除了正在測試以外的狀態(tài)，應(yīng)該維持高阻狀態(tài)，因?yàn)樵S多被測
 試的IC是不允許帶電插拔，否則會(huì)造成IC的損壞。
 
 2、 IC測試儀應(yīng)該保證被測試的IC芯片即便完全損壞，也不應(yīng)該損壞測試儀。
 
     由于數(shù)字IC功能測試儀的管腳電路成本低廉，因此一些此類測試儀，無法保證這兩個(gè)基本要求。
 
     由于數(shù)字IC功能測試儀的價(jià)格低廉，因此被一些需要配備測試儀（如：需要通過某種認(rèn)證），
 但又不實(shí)際使用（僅僅是擺設(shè)）的單位所采購。此類功能測試儀對電子產(chǎn)品的質(zhì)量保障毫無意義！
 筆者認(rèn)為用數(shù)字IC功能測試儀測試IC芯片，不如不測！他會(huì)給IC使用者帶來新的麻煩。
 
    有關(guān)數(shù)字IC有效的參數(shù)測試請參見《電子產(chǎn)品質(zhì)量問題的*佳解決方案—數(shù)字集成電路參數(shù)
 測試》一文。筆者極力建議使用IC測試儀的企業(yè)；建議將IC測試儀用于教學(xué)實(shí)驗(yàn)的高校：選用IC
 參數(shù)測試儀。
 
     數(shù)字IC功能測試儀并未在產(chǎn)品名稱中標(biāo)明“功能測試儀”的字樣，還請測試儀的使用者仔細(xì)甄別。
 
 筆者在此提供讀者選擇IC（參數(shù)）測試儀的兩個(gè)簡單的標(biāo)準(zhǔn)：
 
 1、 單臺(tái)儀器的重復(fù)性要好：用同一臺(tái)儀器測試同一個(gè)IC芯片重復(fù)性要好。
 
 2、 多臺(tái)儀器的一致性要好：用多臺(tái)同一機(jī)型的儀器，測試同一IC芯片，結(jié)果要基本一致。
 
 對上述所討論的問題感興趣的讀者可與我交流。

各種集成電路測試儀的選型請查看：/main/listmulu1-3.html