上海液氮制冷溫度沖擊測試箱，上海三箱式冷熱沖擊機(jī)價格設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn) GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件 GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗A：低溫 GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫 GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則 GJB 150.3A-2009 **裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗 GJB 150.4A-2009 **裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗 GJB 150.5A-2009 **裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗 GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗
溫度變化的現(xiàn)場條件 電子設(shè)備和元器件中發(fā)生溫度變化的情況很普遍。當(dāng)設(shè)備未通電時，其內(nèi)部零件要比其外表面上的零件經(jīng)受的溫度變化慢。 下列情況下，可預(yù)見快速的溫度變化： ——當(dāng)設(shè)備從溫暖的室內(nèi)環(huán)境轉(zhuǎn)移到寒冷的戶外環(huán)境，或相反情況時； ——當(dāng)設(shè)備遇到淋雨或浸入冷水中而突然冷卻時； ——安裝于外部的機(jī)載設(shè)備中； ——在某些運輸和貯存條件下。 通電后設(shè)備中會產(chǎn)生高的溫度梯度，由于溫度變化，元器件會經(jīng)受應(yīng)力，例如，在大功率的電阻器旁邊，輻射會引起鄰近元器件表面溫度升高，而其他部分仍然是冷的。 當(dāng)冷卻系統(tǒng)通電時，人工冷卻的元器件會經(jīng)受快速的溫度變化。在設(shè)備的制造過程中同樣可引起元器件的快速溫度變化。溫度變化的次數(shù)和幅度以及時間間隔都是很重要的。
GJB 150.5A-2009**裝備實驗室環(huán)境試驗方法第5部分：溫度沖擊試驗
上海液氮制冷溫度沖擊測試箱，上海三箱式冷熱沖擊機(jī)價格
型號
TSL-80-A
TSU-80-W
TSS-80-W
TSL-150-A
TSU-150-W
TSS-150-W
TSL-225-W
TSU-225-W
TSS-225-W
TSL-408-W
TSU-408-W
TSS-408-W
標(biāo)稱內(nèi)容積（升）
80
150
200
300
試驗方式
氣動風(fēng)門切換2溫室或3溫室方式
性能
高溫室
預(yù)熱溫度范圍
＋60～＋200℃
升溫速率※1
＋60→＋200℃≤20分鐘
低溫室
預(yù)冷溫度范圍
－78－0℃
降溫速率※1
＋20→－75℃≤80分鐘
試驗室
溫度偏差
±2℃
溫度范圍
TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃;
TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃;
TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃
溫度恢復(fù)時間※2
5分鐘以內(nèi)
試樣擱架承載能力
30kg
試樣重量
7.5kg
10kg
內(nèi)部尺寸（mm）
W
500
600
750
850
H
400
D
800
外形尺寸（mm）※4
1460
1560
1710
1880
1840
1940