- 如果您對該產(chǎn)品感興趣的話，可以
- 產(chǎn)品名稱：BEP-01,Blunt-end Probe(試驗探棒)
- 產(chǎn)品型號：試驗探棒
- 產(chǎn)品展商：其他品牌
- 產(chǎn)品文檔：無相關(guān)文檔
簡單介紹
BEP-01,Blunt-end Probe(試驗探棒),符合:UL,CSA,IEC,EN等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn).品牌:美國.ED&D
產(chǎn)品描述
| ACCESSIBILITY PROBES 試驗探針 |
| FOR TESTING THE PROTECTION AGAINST ACCESS TO HAZARDOUS PARTS |
BEP-01,Blunt-end Probe(試驗探棒)
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Stainless steel probe required by various UL, CSA, IEC, and EN standards. |
美國.ED&D產(chǎn)品服務(wù)于:IBM ，美國航空暨太空總署，英代爾，蘋果， NCR ，索尼公司，太陽，飛利浦公司，思科， AT&T ， Compaq ， JVC ， Hewlett-Packard ，摩托羅拉， Mattel ，戴爾,3 Com 等公司;專為UL ， CSA ， ETL ， TUV,Demko等試驗室提供檢測產(chǎn)品.