硬體設(shè)備
58173 是一組全新獨(dú)特的量測(cè) LED 全光通量之自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。在LED的裸晶與晶粒測(cè)試生產(chǎn)線(xiàn)中，常見(jiàn)使用部份光通量來(lái)取代全光通量之量測(cè)方式 (見(jiàn)圖1)。然而，傳統(tǒng)的方式存在一些缺點(diǎn)，例如：準(zhǔn)確度較低、訊噪比較低、測(cè)試時(shí)間較長(zhǎng)等，以致于導(dǎo)入LED 的裸晶與晶粒生產(chǎn)線(xiàn)時(shí)會(huì)發(fā)生問(wèn)題。
致茂研發(fā)出一種全新、高速且高**度之 LED 全光通量之量測(cè)方式(見(jiàn)圖2)。 這種**的量測(cè)方式不僅比傳統(tǒng)方式收集更多的 LED 部分光通量，也明顯的改善提升了量測(cè)**度。
在光學(xué)量測(cè)方面，主波長(zhǎng)、峰波長(zhǎng)、色溫等均可透過(guò)致茂獨(dú)特的光學(xué)設(shè)計(jì)與元件取得**且穩(wěn)定快速之?dāng)?shù)據(jù)；在機(jī)構(gòu)方面，58173 搭載一個(gè)6吋的晶片載盤(pán)與校正基座，提供使用者一個(gè)完整的校正與測(cè)試平臺(tái)；在電性測(cè)試方面，58173 則具備完整之電源量測(cè)單元，無(wú)論順向電壓、漏電流、逆向崩潰電壓等 LED 電性特性，均可于一次滿(mǎn)足使用者的測(cè)試需求。