X射線熒光光譜儀指標(biāo)信息

    X射線熒光光譜儀具有重現(xiàn)性好，測(cè)量速度快，靈敏度高的特點(diǎn)。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對(duì)象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。無標(biāo)半定量方法可以對(duì)各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結(jié)果，結(jié)果準(zhǔn)確度對(duì)某些樣品可以接近定量水平，分析時(shí)間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析，薄膜分析。測(cè)量樣品的*大尺寸要求為直徑51mm，高40mm。X射線熒光光譜儀主要有各種磁性材料、鈦鎳記憶合金、混合稀土分量、貴金屬飾品和合金等，以及各種形態(tài)樣品的無標(biāo)半定量分析，對(duì)于均勻的顆粒度較小的粉末或合金，結(jié)果接近于定量分析的準(zhǔn)確度。X熒光分析快速，某些樣品當(dāng)天就可以得到分析結(jié)果。適合課題研究和生產(chǎn)監(jiān)控。X射線熒光光譜采用脈沖高度分析器將不同能量的脈沖分開并測(cè)量。能量色散X射線熒光光譜儀可分為具有高分辨率的光譜儀，分辨率較低的便攜式光譜儀，和介于兩者之間的臺(tái)式光譜儀。高分辨率光譜儀通常采用液氮冷卻的半導(dǎo)體探測(cè)器，如Si(Li)和高純鍺探測(cè)器等。低分辨便攜式光譜儀常常采用正比計(jì)數(shù)器或閃爍計(jì)數(shù)器為探測(cè)器，它們不需要液氮冷卻。近年來，采用電致冷的半導(dǎo)體探測(cè)器，高分辨率譜儀已不用液氮冷卻。同步輻射光激發(fā)X射線熒光光譜、質(zhì)子激發(fā)X射線熒光光譜、放射性同位素激發(fā)X射線熒光光譜、全反射X射線熒光光譜、微區(qū)X射線熒光光譜等較多采用的是能量色散方式。非色散譜儀不是采用將不同能量的譜線分辨開來，而是通過選擇激發(fā)、選擇濾波和選擇探測(cè)等方法使測(cè)量分析線而排除其他能量譜線的干擾，因此一般只適用于測(cè)量一些簡(jiǎn)單和組成基本固定的樣品。
    它大量引進(jìn)各種連續(xù)變倍體視顯微鏡、水分測(cè)定儀，為各行業(yè)用戶提供了大量的產(chǎn)品和服務(wù)，世界眾多有名專業(yè)廠家有密切合作關(guān)系。同時(shí)，公司充分利用國(guó)際互聯(lián)網(wǎng)絡(luò)的優(yōu)勢(shì)，不僅能為用戶提供*廣泛的產(chǎn)品選擇機(jī)會(huì)，獲得*優(yōu)的性格比，還可以為用戶快捷提供科技信息。與此同時(shí)，我公司還向廣大用戶推薦使用國(guó)產(chǎn)價(jià)格適中、性能可靠、使用穩(wěn)定，符合國(guó)家質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的儀器、儀表和設(shè)備，目前我公司與許多國(guó)內(nèi)優(yōu)良儀器儀表制造廠商定有代理協(xié)議。

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