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- 產(chǎn)品名稱：糙面色差計
- 產(chǎn)品型號：TC-1800MK-Ⅱ
- 產(chǎn)品展商：其它品牌
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簡單介紹
東京電色糙面色差計TC-1800MK-Ⅱ 應(yīng)用于不平整物體，如粒狀物絲狀物及紋路平面物 用途：應(yīng)用于不平整物體,如粒狀物絲狀物及紋路平面物,不會有方向性問題,再現(xiàn)性佳。特點(diǎn)：采用分光光柵，雙光束交照方式，掃描性能**。利用反饋回路，穩(wěn)定性優(yōu)越。采用單觸式操作，十分簡便；12臺的機(jī)器間的臺間差平均在ΔE0.25以內(nèi)。
產(chǎn)品描述
東京電色糙面色差計TC-1800MK-Ⅱ 用途：應(yīng)用于不平整物體,如粒狀物絲狀物及紋路平面物,不會有方向性問題,再現(xiàn)性佳。
東京電色糙面色差計TC-1800MK-Ⅱ特點(diǎn)：采用分光光柵，雙光束交照方式，掃描性能**。利用反饋回路，穩(wěn)定性優(yōu)越。采用單觸式操作，十分簡便；12臺的機(jī)器間的臺間差平均在ΔE0.25以內(nèi)。
東京電色糙面色差計TC-1800MK-Ⅱ技術(shù)參數(shù)：
測量方法：0°－d法，或d－0°法
測量波長：380～780nm/5nm
測量項(xiàng)目：2°、10°視野，A,C,D65,F6,F8,F10各標(biāo)準(zhǔn)光源
X,Y,Z三刺激值
CIE色度坐標(biāo) x＝X/X＋Y＋Z y＝Y/X＋Y＋Z
R.Hunter表色系 L、a、b、△L、△a、△b、△E
CIELAB表色系 L*、a*、b*、△L*、△a*、△b*、△E*
CIELUV表色系 L*、u*、v*、△L*、△u*、△v*、△E*
黃色度 Y1、△Y1 白色度 W、DENSITY
平均值
分光反射率、透過率、分光曲線（間隔0.5 nm）
測量面積：直徑5、10、25mm
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