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了解高斯計
日期：2025-11-08 14:43
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顯示磁場讀數(shù)是高斯計*基本的功能。為使測量者獲知讀數(shù)，通常采用3種顯示方案，即指針表頭、數(shù)字表頭和微處理器控制。 指針表頭將電流轉(zhuǎn)化為指針在表盤中的偏轉(zhuǎn)位置，是*古老的讀數(shù)顯示方案，通常可提供5%的有效讀數(shù)分辨準確度。即使指針位置不存在誤差，測量者相對表盤的角度和估算經(jīng)驗也將顯著提高讀出誤差，并且讀數(shù)速率很低。因此，在對準確度和測量速率要求稍高的應用中，指針表頭已趨淘汰。 數(shù)字表頭是針對指針表頭讀出誤差問題的改進方案。數(shù)字表頭內(nèi)部集成ADC，將電壓轉(zhuǎn)換為數(shù)字量，并通過數(shù)碼管或段式液晶顯示為數(shù)字讀數(shù)，從而為測量者提供直觀的讀數(shù)。數(shù)字表頭具有固定的讀數(shù)速率，并且無法外部控制。 指針表頭和數(shù)字表頭均只能顯示磁場讀數(shù)，而無法提供更多的測量信息。無論使用二者之一，表頭之前均為簡單的模擬電路結(jié)構(gòu)，因此必須大量使用易損低壽命的琴鍵開關(guān)和機械電位器實現(xiàn)有限的功能。 現(xiàn)代測量不僅需要可顯示的讀數(shù)，還需要更多的功能。自動化測量至少需要高斯計與計算機之間的通訊接口，從而使計算機通過抗干擾的數(shù)字方式獲取讀數(shù)。使用表頭的高斯計無法提供數(shù)字接口，只能通過與磁場值成正比的模擬輸出接口與計算機外設(shè)的數(shù)字采集卡相連，外界干擾和處理環(huán)節(jié)增多將降低測量效用。 很多情況下，例如調(diào)整探頭位置等必須人工參與的環(huán)節(jié)，與測量值共同顯示的*大值將提供足夠的便利。然而，數(shù)字表頭通常單行顯示，無足夠顯示空間。而采用雙表頭時，記錄*大值的表頭之前必須配置復雜的依靠電容的*大值保持模擬電路，電容不可避免的漏電問題將造成嚴重的*大值誤差。 更**的高速自動測量要求嚴格的測量實時性，即于某一時刻在同步觸發(fā)信號觸發(fā)多臺儀器同步測量多個參數(shù)在此時刻的量值。數(shù)字表頭的測量起始時刻點由表頭內(nèi)部電路決定，無法控制，因此只能得到一段時間內(nèi)的平均值，而非某一時刻的準確測量值，無法適應高速測量要求。 數(shù)字表頭不具備運算功能，因此只能實現(xiàn)高斯G與特斯拉T之間的換算，而對于Oe與A/m之間的非10的n次冪換算無能為力。 磁場讀數(shù)之外的功能已成為高斯計不可或缺的組成部分，而使用表頭的產(chǎn)品由于過于簡單的結(jié)構(gòu)愈發(fā)無法適應現(xiàn)代測量要求。使用內(nèi)部微處理器的高斯計成為主流。
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顯示磁場讀數(shù)是高斯計*基本的功能。為使測量者獲知讀數(shù)，通常采用3種顯示方案，即指針表頭、數(shù)字表頭和微處理器控制。 指針表頭將電流轉(zhuǎn)化為指針在表盤中的偏轉(zhuǎn)位置，是*古老的讀數(shù)顯示方案，通常可提供5%的有效讀數(shù)分辨準確度。即使指針位置不存在誤差，測量者相對表盤的角度和估算經(jīng)驗也將顯著提高讀出誤差，并且讀數(shù)速率很低。因此，在對準確度和測量速率要求稍高的應用中，指針表頭已趨淘汰。 數(shù)字表頭是針對指針表頭讀出誤差問題的改進方案。數(shù)字表頭內(nèi)部集成ADC，將電壓轉(zhuǎn)換為數(shù)字量，并通過數(shù)碼管或段式液晶顯示為數(shù)字讀數(shù)，從而為測量者提供直觀的讀數(shù)。數(shù)字表頭具有固定的讀數(shù)速率，并且無法外部控制。 指針表頭和數(shù)字表頭均只能顯示磁場讀數(shù)，而無法提供更多的測量信息。無論使用二者之一，表頭之前均為簡單的模擬電路結(jié)構(gòu)，因此必須大量使用易損低壽命的琴鍵開關(guān)和機械電位器實現(xiàn)有限的功能。 現(xiàn)代測量不僅需要可顯示的讀數(shù)，還需要更多的功能。自動化測量至少需要高斯計與計算機之間的通訊接口，從而使計算機通過抗干擾的數(shù)字方式獲取讀數(shù)。使用表頭的高斯計無法提供數(shù)字接口，只能通過與磁場值成正比的模擬輸出接口與計算機外設(shè)的數(shù)字采集卡相連，外界干擾和處理環(huán)節(jié)增多將降低測量效用。 很多情況下，例如調(diào)整探頭位置等必須人工參與的環(huán)節(jié)，與測量值共同顯示的*大值將提供足夠的便利。然而，數(shù)字表頭通常單行顯示，無足夠顯示空間。而采用雙表頭時，記錄*大值的表頭之前必須配置復雜的依靠電容的*大值保持模擬電路，電容不可避免的漏電問題將造成嚴重的*大值誤差。 更**的高速自動測量要求嚴格的測量實時性，即于某一時刻在同步觸發(fā)信號觸發(fā)多臺儀器同步測量多個參數(shù)在此時刻的量值。數(shù)字表頭的測量起始時刻點由表頭內(nèi)部電路決定，無法控制，因此只能得到一段時間內(nèi)的平均值，而非某一時刻的準確測量值，無法適應高速測量要求。 數(shù)字表頭不具備運算功能，因此只能實現(xiàn)高斯G與特斯拉T之間的換算，而對于Oe與A/m之間的非10的n次冪換算無能為力。 磁場讀數(shù)之外的功能已成為高斯計不可或缺的組成部分，而使用表頭的產(chǎn)品由于過于簡單的結(jié)構(gòu)愈發(fā)無法適應現(xiàn)代測量要求。使用內(nèi)部微處理器的高斯計成為主流。
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