在老化階段進(jìn)行半導(dǎo)體測試時(shí)有多種原因，在探討這些原因之前，我們首先要明確“測試”的真正含義。
一般半導(dǎo)體測試要用到昂貴的高速自動測試設(shè)備，在一個電性能條件可調(diào)的測試臺上對半導(dǎo)體作測試。它還可以在標(biāo)稱性能范圍之外進(jìn)行，完成功能(邏輯)和參數(shù)(速度)方面的測試，像信號升降時(shí)間之類的參數(shù)可**到皮秒級。也許是因?yàn)榭煽販y試環(huán)境只有一個器件作為電性負(fù)載，所以信號轉(zhuǎn)換很快，能夠進(jìn)行真實(shí)的器件響應(yīng)參數(shù)測量。
但在老化的時(shí)候，為提高產(chǎn)品的產(chǎn)量*好是能夠同時(shí)對盡可能多的器件作老化。為滿足這一要求，可把多個器件裝在一個大的印刷線路板上，這個板稱為老化板，它上面的所有器件都并聯(lián)在一起。大型老化板的物理電氣特性不能和只測試一個器件的小測試臺相比，因?yàn)槔匣迳系娜菪院透行载?fù)載會給速度測試帶來麻煩。所以我們通常無法用老化進(jìn)行所有功能測試。不過在某些情況下，運(yùn)用特殊的系統(tǒng)設(shè)計(jì)技術(shù)在老化環(huán)境下進(jìn)行速度測試也是可能的。
老化系統(tǒng)中的“測試”可以指任何方面，從對每一器件每一管腳進(jìn)行基本信號測試，到對老化板上的所有器件作幾乎100%功能測試，這一切均視器件復(fù)雜性及所選用的老化測試系統(tǒng)而定?？梢哉f對任何器件進(jìn)行100%功能測試都是可以做得到的，但是這樣采用的方法可能會減少老化板上的器件密度，從而增加整體成本并降低產(chǎn)量。
公安機(jī)關(guān)備案號：
