TS 高低溫試驗(yàn)箱 在筆記本電腦的可靠性測(cè)試作用
筆記型計(jì)算機(jī)從早期的12吋熒幕進(jìn)化到現(xiàn)在的LED背光熒幕，其運(yùn)算效能及3D處理，不會(huì)輸給一般桌上計(jì)算機(jī)，而重量越來(lái)越?jīng)]有負(fù)擔(dān)，相對(duì)的對(duì)于整個(gè)筆記型計(jì)算機(jī)的可靠度試驗(yàn)要求也越趨嚴(yán)苛，從早期的包裝落下到現(xiàn)今的開機(jī)落下，傳統(tǒng)的高溫高濕到現(xiàn)在的結(jié)露試驗(yàn)，從一般環(huán)境的溫濕度范圍到將沙漠試驗(yàn)列為常用條件，這些都是生產(chǎn)筆記型計(jì)算機(jī)相關(guān)組件及設(shè)計(jì)所需要考量的部分，將目前所收集的相關(guān)環(huán)境試驗(yàn)的試驗(yàn)條件整理與大家分享，期望對(duì)這個(gè)產(chǎn)業(yè)能夠盡上棉薄之力。
可靠度實(shí)驗(yàn)室是一家公司在質(zhì)量檢驗(yàn)上重要而且不可或缺的重要單位，不管是在研發(fā)或是出貨檢測(cè)階段上都需要進(jìn)行相關(guān)的可靠度試驗(yàn)，聯(lián)想計(jì)算機(jī)的可靠度實(shí)驗(yàn)室，大量采用相關(guān)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備，進(jìn)行產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)以及無(wú)鉛制程的相關(guān)試驗(yàn) 。
鍵盤敲打試驗(yàn)
筆記型計(jì)算機(jī)從早期的12吋熒幕進(jìn)化到現(xiàn)在的LED背光熒幕，其運(yùn)算效能及3D處理，不會(huì)輸給一般桌上計(jì)算機(jī)，而重量越來(lái)越?jīng)]有負(fù)擔(dān)，相對(duì)的對(duì)于整個(gè)筆記型計(jì)算機(jī)的可靠度試驗(yàn)要求也越趨嚴(yán)苛，從早期的包裝落下到現(xiàn)今的開機(jī)落下，傳統(tǒng)的高溫高濕到現(xiàn)在的結(jié)露試驗(yàn)，從一般環(huán)境的溫濕度范圍到將沙漠試驗(yàn)列為常用條件，這些都是生產(chǎn)筆記型計(jì)算機(jī)相關(guān)組件及設(shè)計(jì)所需要考量的部分，將目前所收集的相關(guān)環(huán)境試驗(yàn)的試驗(yàn)條件整理與大家分享，期望對(duì)這個(gè)產(chǎn)業(yè)能夠盡上棉薄之力。
可靠度實(shí)驗(yàn)室是一家公司在質(zhì)量檢驗(yàn)上重要而且不可或缺的重要單位，不管是在研發(fā)或是出貨檢測(cè)階段上都需要進(jìn)行相關(guān)的可靠度試驗(yàn)，聯(lián)想計(jì)算機(jī)的可靠度實(shí)驗(yàn)室，大量采用相關(guān)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備，進(jìn)行產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)以及無(wú)鉛制程的相關(guān)試驗(yàn) 。
鍵盤敲打試驗(yàn)
GB | 100萬(wàn)次 |
| 按鍵壓力 | 0.3--- 0.8N |
| 按鍵行程 | 0.3---1.5MM |
試驗(yàn)二：按鍵壓力：75g(±10g) 測(cè)試10個(gè)鍵，測(cè)試14 days，每分鐘240次， 合計(jì)約：483萬(wàn)次，每100萬(wàn)次檢查一次
日系廠商 | 200-500萬(wàn)次 |
| 臺(tái)系廠商 | 800萬(wàn)次以上 |
| 臺(tái)系廠商 | 1000萬(wàn)次 |
電源開關(guān)與連接器插拔拉扯測(cè)試：
這個(gè)測(cè)試模仿各個(gè)連接器在反常用法之下，連接器所能夠承受的側(cè)向力量。
一般筆記本計(jì)算機(jī) 測(cè)試項(xiàng)目：USB、1394、PS2、RJ45 、 Modem、VGA..等 施力5kg(50次) 、上下左右拉扯與插拔。
電源開關(guān)與連接器插拔測(cè)試
4000次電源插拔
熒幕上蓋開合測(cè)試：
臺(tái)系廠商 | 開合2萬(wàn)次 |
| 日系廠商 | 開合8.5萬(wàn)次 |
| 日系廠商 | 開合3萬(wàn)次 |
系統(tǒng)待命及恢復(fù)開關(guān)測(cè)試：
一般筆記本 | 間隔10sEC 1000次 |
| 日系廠商 | 系統(tǒng)待命及恢復(fù)開關(guān)測(cè)試2000次 |
常見筆記本計(jì)算機(jī)故障原因：
☆搬運(yùn)中掉落
☆異物掉落在筆記本上
☆使用中從桌子上掉落
☆將筆記本塞在提包或拉桿箱
☆極高溫或低溫
☆正常使用（過(guò)度使用）
☆在旅游地錯(cuò)誤使用
☆PCMCIA不正確插入
☆在鍵盤上放置異物
關(guān)機(jī)落下試驗(yàn)：
一般筆記本 | 76公分 |
| GB包裝落下 | 100公分 |
| 美軍，日系比較本電腦 | 90公分高度上將電腦從各面，棱，角26次 |
| 日系 | 30公分關(guān)機(jī)落下，自由跌落各面，棱，角26次 |
| TOSHIBA,BENQ | 100公分 |
開機(jī)落下試驗(yàn)：
日系 | 10公分開機(jī)落下 |
| 臺(tái)系 | 74公分開機(jī)落下 |
操作溫度試驗(yàn)：
筆記型組件檢查點(diǎn)(h)：0、4、8、24、32、40、56、64、72、88、92、96
儲(chǔ)存高低溫試驗(yàn)- TS高低溫試驗(yàn)箱
筆記本計(jì)算機(jī)主機(jī)板溫度沖擊：
斜率（快速溫變?cè)囼?yàn)箱） | 20℃/min |
| 循環(huán)數(shù) （TS高低溫試驗(yàn)箱） | 50cycles（沖擊時(shí)無(wú)操作） |
美國(guó)軍方對(duì)筆記型計(jì)算機(jī)采購(gòu)的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)&試驗(yàn)條件如下符合MIL-STD-810 **規(guī)范
抗沖擊性試驗(yàn) | 90公分高度上將電腦從各面，棱，角26次 |
| 抗震性試驗(yàn) | 20HZ---1000hz 1000hz---200hz XYZ三軸震動(dòng)60min |
| TS高低溫試驗(yàn)箱 | 0-60℃ 72h |
| 防水試驗(yàn) | 全方位噴水10min 噴水量1mm/min |
| 防塵試驗(yàn) | 粉塵濃度6mg/m3 持續(xù)時(shí)間2s（每隔10min，連續(xù)10次） |
公安機(jī)關(guān)備案號(hào)：
