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　　使用金相顯微鏡系列配合起偏，檢偏及DIC微分干涉，可以很好的觀察屏的導(dǎo)電粒子，確認(rèn)導(dǎo)電粒子個(gè)數(shù)是否符合要求。

　　首先，需要觀察導(dǎo)電粒子必須要有配有DIC及起偏檢偏器的金相顯微鏡。對(duì)于觀察導(dǎo)電粒子來(lái)說(shuō)一般選用的鏡頭是要求為不超過(guò)20倍為*好，超過(guò)后會(huì)由于景深的問(wèn)題導(dǎo)致觀察效果模糊，無(wú)法觀察到*好的效果。

　　準(zhǔn)備好金相顯微鏡及必要的屏后就可以開(kāi)始觀察導(dǎo)電粒子了。首先把DIC及起偏檢偏拉出，然后把屏放置在載物臺(tái)上，調(diào)整好焦距，通過(guò)載物臺(tái)移動(dòng)后找到觀察位置。現(xiàn)在插入起偏及檢偏器，通過(guò)目鏡觀察屏上位置，再調(diào)節(jié)檢偏器，直到光線*黑時(shí)停止調(diào)節(jié)檢偏器。*后插入DIC,調(diào)節(jié)DIC進(jìn)行偏光直到看到導(dǎo)電粒子*清晰時(shí)就可以停止了。

　　以上就是使用金相顯微鏡觀察導(dǎo)電粒子的簡(jiǎn)單方法!