*近有一些客戶反映，用不同的品牌的LCR數(shù)字電橋或者同一品牌的lcr電橋的不同型號(hào)對(duì)兆歐級(jí)高阻抗電阻測(cè)量時(shí)，結(jié)果偏差很大，甚至是安捷倫，同惠的產(chǎn)品也是這樣。經(jīng)過我們儀器信息港(同惠上海總代)的工程師查閱了技術(shù)文獻(xiàn)，走訪了一些遇到這樣問題的客戶，我們給出了一下的解釋，基本解決了LCR數(shù)字電橋如何測(cè)量兆歐級(jí)高阻抗電阻的問題。
如下圖所示，高值電阻包含一個(gè)寄生低pF 級(jí)電容，這個(gè)電容與電阻是并聯(lián)：
儀器信息港確認(rèn)當(dāng)使用 lcr數(shù)字電橋測(cè)量高值電阻時(shí)，應(yīng)選擇 Cp - Rp 測(cè)量功能(并聯(lián)等效電路模式)，使測(cè)量電路模式與電阻的實(shí)際等效電路相匹配，如下圖所示。
上圖中，Xp 代表寄生電容在測(cè)試頻率上的電抗(電容性阻抗)。公式“D”代表電阻在測(cè)試頻率上的損耗因數(shù)。
如果使用 R - X 測(cè)量功能來測(cè)量電阻，那么 E4980A/ 4284A 采用如下所示的串聯(lián)等效電路：
串聯(lián)等效電路模式(R - X 測(cè)量中)不同于高值電阻的實(shí)際并聯(lián)等效電路。因此， R - X 模式中的被測(cè)電阻與實(shí)際的并聯(lián)電阻(Rp)不一致。從理論上講，串聯(lián)電阻(Rs)與并聯(lián)電阻(Rp)的關(guān)系可用等式 Rs = Rp x D2 / (1 + D2) 表示。此處，串聯(lián)和并聯(lián)等效電路的損耗因數(shù)(D)值是相等的：
當(dāng)D 值不夠高(純電阻性)時(shí)，串聯(lián)電阻(Rs)總是低于并聯(lián)電阻(Rp)。
所以，您在使用lcr數(shù)字電橋時(shí)測(cè)量高阻抗電阻時(shí)，請(qǐng)選好測(cè)試參數(shù)進(jìn)行測(cè)量。本文章由儀器信息港編寫，希望對(duì)您有所幫助。
公安機(jī)關(guān)備案號(hào)：
