直流電橋檢定規(guī)程
本檢定規(guī)程適用于新制造、使用中和修理后的電阻型直流電橋(以下簡稱電橋)的檢定。其電阻測量上限小于106Ω，準確度等級等于或低于0.005級。
本規(guī)程不適用于自動電橋、半自動電橋、電流比較儀電橋及其它特殊用途電橋的檢定。
一技術(shù)要求
1 外觀及標志
1.1 電橋的銘牌或外殼上應有：
產(chǎn)品名稱、型號、出廠編號、制造廠名稱或商標;
有效量程及總有效量程;
各有效量程的準確度等級;
試驗電壓。
1.2 電橋上的端鈕應有明顯的使用標志。電橋上應有封印的位置。
2 電橋的允許基本誤差應符合以下計算公式：
式中: Elim-電橋的允許基本誤差(Ω);
RN-基準值(Ω);
X-標度盤示值(Ω);
k-制造廠規(guī)定的數(shù)值，但必須≥10;
a-準確度等級。
用相對誤差來表示：
3 電橋的絕緣電阻應同時滿足下列兩個要求：
3.1 在電橋總有效量程內(nèi)，當電橋平衡時，電橋上的任意一個端鈕(除非制造廠規(guī)定該端鈕不允許接地外)與外殼(外殼必須接地，若電橋的外殼是絕緣材料，則電橋放在金屬板上，金屬板再接地)連接時，引起檢流計偏轉(zhuǎn)而產(chǎn)生的誤差不應大于電橋允許基本誤差的1/10。
3.2 電橋線路對與線路無電氣連接的任意點之間的絕緣電阻≥100MΩ。
4 電橋線路絕緣電壓試驗的要求
在規(guī)定的條件下，連接在一起的測量線路與測試用參考接地端之間，應能耐受頻率為45～65Hz的實際正弦波交流電壓歷時1min的試驗而無擊穿或放電現(xiàn)象。
注：線路絕緣電壓指電橋可以工作的*高對地電壓。
線路絕緣電壓試驗中參考接地端應包括所有與此線路無電氣連接的外露金屬部件。
若絕緣外殼上沒有金屬部件，則是將被檢電橋包起來的金屬箔(金屬箔與接線端之間應留有20mm的間隙)。
5 裝有內(nèi)附指零儀的電橋，其指零儀應滿足以下要求：
5.1 靈敏度的要求
在電橋規(guī)定的使用電壓及總有效量程內(nèi)，電橋測量端上接上電阻測量上限或下限，當電橋平衡時，改變電橋測量盤(或被測電阻)的(a/10)%時(a為被檢電橋的準確度等級)，指零儀的偏轉(zhuǎn)應不小于1分格(1分格不得小于1mm)。達不到上述要求時，電橋必須具有外接指零儀的接線端鈕，但內(nèi)附指零儀靈敏度*低不應低于1格/(a%×R)(R為被測量電阻或電橋讀數(shù))。
5.2 阻尼時間的要求
單電橋或雙電橋指零儀的阻尼時間不應超過4s;單、雙兩用電橋的指零儀阻尼時間不應超過6s。
5.3 結(jié)構(gòu)要求
指零儀應有機械調(diào)零及鎖定裝置。
5.4 采用電子放大式指零儀還應滿足以下要求：
5.4.1預熱時間
準確度等級低于或等于0.2級的電橋、內(nèi)附指零儀預熱時間不應超過5min;其余等級的電橋內(nèi)附指零儀預熱時間不應超過15min。
5.4.2指針漂移
指零儀預熱后，15min內(nèi)指針漂移≤1格;4h內(nèi)指針漂移≤5格。
5.4.3指針抖動
用肉眼不易看出。
5.4.4結(jié)構(gòu)要求
應有電氣調(diào)零機構(gòu)。如在使用溫度范圍內(nèi)，10min內(nèi)指針漂移小于1格，可以不裝電氣調(diào)零機構(gòu)。
二檢定條件
6 檢定電橋的環(huán)境條件
6.1 檢定電橋基本誤差時的溫度與相對顯度條件見。
6.2 電橋絕緣電阻測量及線路絕緣電壓試驗的條件為：
溫度：15～35℃;
相對濕度：45～75%;
無露水、滲水、雨水、陽光照射等情況。
7 檢定電橋時，由標準器、檢定輔助設備及環(huán)境條件所引起的檢定總不確定度不應超過被檢電橋允許基本誤差的1/3。
8 整體法檢定電橋時，標準電阻箱的準確度等級不應低于的規(guī)定。
9 按元件檢定電橋時，各橋臂電阻元件的允許誤差，測量誤差、選用標準電阻準確度等級見
(二)量程變換器
注：(1)表中“標準電阻”指在按元件檢定的電橋采用替代法或置換法時，所選用的標準電阻準確度等級;
(2)表中“化整位數(shù)”指各測量盤的**點，其它各點的末位數(shù)與**點末位數(shù)對齊;
(3)表中“允許誤差”≥0.1%時，可用0.02級電橋直接測量，所以表中“標準電阻”均未列;
(4)準確度等級低于0.05級的電橋，一般采用整體法檢定所以表中均未列入;
(5)表中的“允許誤差”是電橋在按元件檢定時的誤差分配，不能作為判別被檢電橋是否合格的依據(jù)。若檢定結(jié)果中電阻元件的誤差均小于表中所列的“允許誤差”，則該電橋基本誤差合格;若檢定結(jié)果中有部分電阻元件的誤差已超過表中的“允許誤差”，則必須計算被檢電橋的*大綜合誤差，才能確定被檢電橋是否合格。
10 按元件檢定的電橋，采用替代法或置換法檢定時，測量儀器所引起的誤差不應超過被檢電阻元件允許誤差的1/10。
11 檢定電橋時，檢流計靈敏度閥引起的誤差不應超過允許誤差的1/10。
12 檢定裝置中的殘余電勢、開關(guān)接觸電阻及其變差、連接導線電阻、絕緣電阻引起的泄漏及靜電等因素所引起的誤差，都不應超過允許誤差的1/20。
13 半整體檢定電橋時，量程變換器及測量盤的誤差分配均為電橋允許基本誤差的1/2。
14 在檢定電橋的整個過程中，流過標準器及被檢電橋的電流均不應超過它們的允許值。如果對此沒有明確規(guī)定時，則不應超過相當于0.05W功率的電流，但不得大于0.5A。
15 在保證檢定總不確定度的條件下，允許采用其它的誤差分配方法。
16 測量絕緣電阻儀器的要求為：
a.測量誤差：±30%;
b.直流電壓：500V±10%。
17 用于線路絕緣電壓試驗的高壓試驗臺的要求為：
a.有足夠的輸出功率。試驗方法是先將高壓輸出端空載(即開路)，并將電壓升至欲試驗電壓的1/2，設其為u，隨后接上被試電橋，觀察此時電源電壓的跌落，若電壓跌落小于0.1u，則可認為高壓試驗臺有足夠的輸出功率;
b.絕緣強度試驗電壓的誤差：±25%;
c.絕緣擊穿時，繼電器能自動切斷高壓電源，其動作電流為5mA，此電流為高壓側(cè)輸出電流;
d.電源頻率：45～65Hz;
e.輸出電壓調(diào)節(jié)細度小于100V。
三檢定項目
18 直流電橋的檢定項目
四檢定方法
19 檢定電橋的方法一般有整體檢定、半整體檢定及按元件檢定三種。
整體檢定是用標準電阻箱的電阻示值去比較被檢電橋的示值，從而確定電橋的基本誤差。
按元件檢定是測量被檢電橋每個電阻元件的阻值，通過一定的公式計算，確定被檢電橋的基本誤差。
半整體檢定是整體檢定量程變換器(或測量盤)，按元件檢定測量盤(或量程變換器)，然后通過一定的公式計算，確定被檢電橋的基本誤差。
20 檢定步驟如下：
20.1 外觀檢查
根據(jù)第1條的要求，檢查電橋銘牌或外殼上應有的標志，同時檢查電橋外殼、外露部件及插銷接觸狀況、有無封印位置等。
對于新生產(chǎn)的電橋都要求完好;對于使用中的及修理后的電橋，如發(fā)現(xiàn)某一項已嚴重影響電橋電氣性能時，則應修復后再進行檢定。
20.2 線路檢查
用電阻表檢查電橋內(nèi)部電阻元件，不應有斷路或短路的現(xiàn)象，電橋?qū)嶋H線路和銘牌線路(或使用說明書上的線路)應相符。對于裝有內(nèi)附指零儀的電橋，還應檢查調(diào)零機構(gòu)是否正常。
準確按元件檢定的電橋，則必須找出電橋的節(jié)點(又稱頂點)，確定檢定時的接線位置，如圖1。
單電橋是要對A、B、C、D節(jié)點之間的AB、BC、DA的電阻進行檢定;雙電橋則是要對A、B、C、D、E、F節(jié)點之間的AC、BD、AF、BE的電阻進行檢定。
外觀及線路檢查后，將被檢電橋放在第6.2款規(guī)定的條件下穩(wěn)定至少24h。
20.3 電橋絕緣電阻的測量
圖1單、雙電橋節(jié)點位置
20.3.1絕緣電阻對整體誤差影響的試驗
將被檢電橋外殼接地(如果被檢電橋的外殼是絕緣材料制成。而且無接地端鈕，則將電橋放在金屬板上，金屬板再接地)。在被檢電橋測量端鈕上，接上數(shù)值等于總有效量程中測量上限值的電阻，調(diào)節(jié)測量盤使電橋平衡，此時指零儀的靈敏度不應低于1格/(a/10)%Rx)。隨后另取一根接地線分別接到被檢電橋各接線端鈕(制造廠規(guī)定不允許接地的端鈕除外)。觀察指零儀的偏轉(zhuǎn)所引起的誤差，若不大于被檢電橋允許基本誤差的1/10，則認為該電橋的絕緣電阻對整體誤差影響試驗合格，見圖2。
20.3.2電橋線路對與線路無電氣連接各點之間絕緣電阻的測量。
測量的方法：將絕緣電阻測量儀的兩測試端，分別接到電橋線路和與線路無電氣連接的各金屬點，測量其絕緣電阻，絕緣測量儀上的讀數(shù)應在電壓施加后1～2min之間進行。
圖2 電橋絕緣電阻對整體誤差影響試驗
20.4 線路絕緣電壓試驗
將被檢電橋所有接線端鈕用裸銅線連接在一起，高壓試驗臺的兩試驗端分別接到電橋線路與測試用的參考接地端，逐漸升起電壓，當升至規(guī)定的試驗電壓后，保持1min。如我擊穿或放電現(xiàn)象，則認為線路絕緣電壓試驗合格。
上述項目試驗時，應特別注意**，嚴格按照有關(guān)高壓試驗臺操作規(guī)范。
絕緣電阻測量及線路絕緣電壓試驗后，將被檢電橋放在檢定溫度及相對濕度條件下，穩(wěn)定不少于2h，再進行以下的檢定。
20.5 電橋內(nèi)附指零儀靈敏度試驗
電橋內(nèi)附指零儀靈敏度的試驗，應在被檢電橋總有效量程的測量電阻的上、下限上進行。電橋的供電電壓應根據(jù)制造廠的有關(guān)規(guī)定。測量端分別接上電阻值為該電橋總有效量程上、下限的電阻，調(diào)節(jié)測量盤使電橋平衡，然后將被測電阻(或測量盤電阻)改變RX×a%，觀察指零儀，其偏轉(zhuǎn)不應低于5.1款的要求。
20.6 電橋內(nèi)附指零儀阻尼時間的試驗
內(nèi)附指零儀阻尼時間的試驗，也應在被檢電橋總有效量程的電阻測量上、下限上進行。調(diào)節(jié)測量盤，使指零儀的指針偏轉(zhuǎn)至滿度，隨后切斷電橋供電電源，用秒表測量指針從滿度回到離開零位線≤1min時的時間。
20.7 電橋內(nèi)附指零儀零位漂移及指針抖動的試驗
對具有內(nèi)附電子放大式指零儀的電橋，還應試驗指零儀的漂移及抖動。其方法是接通指零儀的供電電源，按制造廠規(guī)定的時間預熱后，將指零儀的指針調(diào)至零位，過10min后，指針的偏轉(zhuǎn)不應大于1mm，同時指針不應有肉眼能看得出的抖動(一般為≤0.3mm)。
20.8 整體檢定
20.8.1全檢量程的確定及檢定
首先確定被檢電橋的全檢量程。所謂全檢量程即在該量程下，對所有測量盤的示值均需一一檢定者。確定全檢量程的原則是：
a.應保證被檢電橋**個測量盤加入工作，其示值由1至10時的各個電阻測量值均應在該電橋的總有效量程以內(nèi)。
b.整體檢定電橋時，選用的標準電阻箱應保證具有足夠的準確度和讀數(shù)位數(shù);
c.根據(jù)用戶的要求，先將標準電阻箱各十進盤及被檢電橋各測量盤，從頭至尾來回轉(zhuǎn)動數(shù)次，使其接觸良好，再將標準電阻箱接于被檢電橋的測量端(見圖3)。調(diào)節(jié)標準電阻箱十進盤使電橋平衡，這樣用標準電阻箱的示值與被檢電橋測量盤全部示值進行比較(對具有滑線盤的電橋僅比較有數(shù)字標記的刻度點)。
20.8.2其它量程的檢定
其它量程的檢定則只限于通過檢定求出該量程與全檢量程的量程系數(shù)比，方法是在被檢電橋的**個測量盤內(nèi)選取三個示值(其中一個示值必須是基準值，其余二個示值應在基準值附近)，同樣用標準電阻箱的示值去比較，求出該示值的實際值，用下式計算量程系數(shù)比M。
式中：M-被檢電橋某一量程對全檢量程的量程系數(shù)比;
n1、n2、n3-被檢電橋**個測量盤在全檢量程時所檢得的實際值;
n1、n2、n3-被檢電橋**個測量盤在欲求量程系數(shù)比的量程下，所檢得的實際值。
圖3整體檢定單、雙電橋線路圖
上述三個比值互相之差以相對誤差表示時，不應超過(1/3)a%。若超過，則必須找出原因后重檢，或?qū)υ摿砍踢M行全檢。
若標準電阻箱的準確度等級比被檢電橋高10倍，則允許只檢定基準值一個點，并據(jù)此求出其量程系數(shù)比。
對于0.05級及以下的不給出數(shù)據(jù)的電橋，在對其它量程檢定時，只要檢定**個測量盤在全檢量程檢定結(jié)果中具有*大正、負相對誤差兩個點，看其是否超差，而不必求出其量程系數(shù)比。
20.8.3整體檢定電橋時應注意的幾個問題
a.要注意連接導線電阻、開關(guān)接觸電阻及標準電阻箱的殘余電阻對檢定結(jié)果帶來的影響。
b.在整體檢定雙電橋時，跨線電阻不應超過制造廠的規(guī)定。發(fā)制造廠沒有明確規(guī)定時，跨線電阻應不大于標準電阻(即圖1中的Rs電阻)與被測電阻和的1/5，但不得大于0.01Ω。
c.如果標準電阻箱有足夠的調(diào)節(jié)細度，建議采用完全平衡法：如果標準電阻箱調(diào)節(jié)細度不夠，建議采用不完全平衡法，它是通過求所在示值下指零儀的電阻常數(shù)，再根據(jù)指零儀的不平衡偏轉(zhuǎn)格數(shù)，計算出不平衡偏轉(zhuǎn)格數(shù)所??應的電阻值。
d.在檢定雙電橋時，如果標準電阻箱的調(diào)節(jié)細度不夠，允許調(diào)節(jié)被檢電橋*后一、二個測量盤，使電橋平衡，此時電橋測得讀數(shù)與標準電阻箱示值之差就是被檢電橋示值的誤差。
20.9 按元件檢定
根據(jù)標準裝置的設備條件，參照附錄2-4中介紹的測量電阻元件的方法，求出被檢電橋單個元件的電阻值。
20.9.1測量盤電阻元件及測量盤殘余電阻的測量
測量盤電阻元件可以單個測量，也可以累計測量，選擇的原則是：
a.根據(jù)表4規(guī)定的各測量盤電阻測量誤差的要求，選用相應準確度等級的標準電阻測量儀器，直接測量其累計電阻值。如電阻元件允許誤差≥0.1%，可用0.02級電橋直接測量其電阻值。
b.若被檢電橋測量盤結(jié)構(gòu)上允許按單個電阻元件測量(例如QJ5電橋)，則可利用同標稱值的標準電阻，通過直流電橋或電位差計采用替代法進行測量。
c.如果由于缺少相應準確度等級的電阻測量儀器以致無法直接累計測量，且被檢電橋結(jié)構(gòu)上又不允許按單個電阻元件進行測量時(如QJ19型)，則可采用同標稱值標準電阻，通過單、雙兩用電橋置換法進行測量(當然也可以用比較電橋或直讀電橋進行測量)。
d.測量盤殘余電阻可用0.1級雙電橋直接進行測量，重復測量三次，每次測量前將各測量盤來回轉(zhuǎn)動數(shù)次，取三次測量結(jié)果的平均值作為測量盤的殘余電阻值。
20.9.2量程變換器電阻的測量
根據(jù)表4規(guī)定的測定誤差，當有相應等級的電阻測量儀器時，可以直接進行測量;或采用同標稱值標準電阻通過單、雙兩用電橋替代法進行測量。
20.10 半整體檢定
半整體檢定按下述順序進行
a.按元件測量測量盤電阻值;
b.整體測量量程變換器比值。
測量盤電阻的測量可參照按元件檢定的方法，量程變換器比值的測量可用萬能比例臂電橋，在缺少萬能比例臂電橋時，可用兩只標準電阻箱組成標準比例，如圖4所示。
量程變換器整體檢定
20.11 整體核對
按元件檢定及半整體檢定的電橋，它與實際使用情況不盡相符，因此檢定后必須進行整體核對，核對的方法可見附錄5。
21 在保證檢定總不確定度條件下，允許用本規(guī)程以外的方法進行檢定，如有爭議時，以本規(guī)程推薦的方法為準。
五檢定結(jié)果的處理和檢定周期
22 計算測量結(jié)果數(shù)據(jù)，求出被檢電橋示值的修正值或?qū)嶋H值，必要時還應引入標準量具或測量儀器的修正值。
如果測量盤是按元件檢定的。則必須計算每個測量盤電阻的累計值(或累計修正值)。除*后一個測量盤外，上述累計值都不應包括殘余電阻，殘余電阻加在*后一個測量盤的每一個示值上。
23 檢定數(shù)據(jù)化整時應采用四舍五入及偶數(shù)法則，一般化整到允許誤差的1/10。按元件檢定數(shù)據(jù)化整見表4;整體及半整體檢定數(shù)據(jù)化整見表6。在判斷電橋合格或不合格時，一律以化整后的數(shù)據(jù)為準。
表6
注：(1)上述數(shù)據(jù)化整是對每個測量盤的**點，其它各點的末位數(shù)與**點末位數(shù)對齊;
(2)0.005級電橋一般不采用整體檢定，所以表中未列。
24 整體檢定電橋時，*大綜合誤差按下式進行計算：
式中: ξ+Rxmax、ξ-Rxmax-被檢電橋*大正、負相對誤差;
ξ+Mmax、-ξ-Mmax-被檢電橋量程系數(shù)比中*大正、負相對誤差;
ξ+Rmax、+ξ-Rmax-被檢電橋全檢量程內(nèi)**、二個測量盤中*大綜合正、負相對誤差。
在挑選被檢電橋量程系數(shù)比中*大正、負相對誤差時，若無正號相對誤差，則挑選*小的負號相對誤差;若無負號相對誤差，則挑選*小的正號相對誤差。
**、二個測量盤*大綜合誤差計算見25.1.1項。第三個及以后的測量盤的*大相對誤差不應超過表4的規(guī)定。
ξ+Rxmax、ξ-Rxmax相對誤差以(1/10)a%化整，都不應超過電橋總有效量程內(nèi)的允許基本誤差。
25 按元件檢定的電橋*大綜合誤差計算
25.1 按元件檢定的單電橋*大綜合誤差計算(見圖5)
電阻測量的計算公式為：
25.1.1 求出測量盤R的*大正、負相對誤差
測量盤一般由多個十進盤組成，起主要作用的是**、二個測量盤，為了簡化計算，測量盤的*大綜合誤差僅從**、二個測量盤中求得，第三個以后的測量盤不應超過表4的規(guī)定。
**、**個測量盤的*大綜合誤差按下列方法計算：
a.當每一個測量盤的*大相對誤差大于或等于**個測量盤的*大相對誤差時，**、**個測量盤的*大綜合相對誤差則為**個測量盤的*大相對誤差，即：
正號相對誤差
負號相對誤差
測量盤的*大綜合誤差為ξ+Rmax=ξ+RⅠmax
式中: ξ+Rmax、ξ-RⅠmax-**個測量盤的*大正、負相對誤差;
ξ+RⅡmax、-ξ-RⅡmax-**個測量盤的*大正、負相對誤差。
b.當**個測量盤的*大相對誤差大于**個測量盤的*大相對誤差時，即：
正號相對誤差
負號相對誤差
則可近似按下式求出**、**兩個測量盤的*大綜合正、負相對誤差
式中:〔R1〕-**個測量盤中*大相對誤差點所在的電阻標稱值;
〔RⅡ〕-**個測量盤中*大**誤差點所在的電阻標稱值;
θ+RⅡmax、θ-rⅡmax-在**個測量盤中*大正、負**誤差。
在計算*大正、負相對誤差時，應注意：當?shù)冖駛€測量盤中沒有正號(或負號)相對誤差時，則取該盤中*小的負號(或正號)相對誤差。
25.1.2 求出量程變換器R1及R2中*大正、負相對誤差，即：
25.1.3 按下述公式進行計算，求出被檢電橋的*大綜合正、負相對誤差。
*大綜合正號相對誤差
*大綜合負號相對誤差
25.2 按元件檢定雙電橋*大綜合誤差計算
被測電阻的計算公式為：
雙電橋*大綜合誤差計算步驟如下：
25.2.1 求出內(nèi)附標準電阻RS中的*大正、負相對誤差，即
若被檢電橋內(nèi)無此標準電阻，則RS的相對誤差取為零。
25.2.2 求出測量盤外臂*大正、負相對誤差(方法同單電橋多個十進盤*大相對誤差計算)。即：
由于雙電橋的內(nèi)、外臂是同步的，根據(jù)測量盤的外臂*大正、負相對誤差所在點，找出相對應的測量盤內(nèi)臂的相對誤差。注意該誤差不一定是內(nèi)臂的*大相對誤差，誤差符號可能是正，也可能是負。
右上角(+)或(-)是指根據(jù)ξ+R1max及ξR1max對應找出的R′1的誤差，因此加上括號。
25.2.3 在量程變換器的外臂中求出*大的正、負相對誤差，即：
由于雙橋電橋的內(nèi)、外臂是同步的，根據(jù)量程變換器外臂*大正、負相對誤差，求出相對應的量程變換器內(nèi)臂的相對誤差，即：
25.2.4 按下式計算，求出雙電橋的*大正、負相對誤差：
式中K-系數(shù)，按制造廠規(guī)定。若沒有規(guī)定時，K取0.2。
計算出的ξ+Rxmax及ξ-Rxmax按四舍五入及偶數(shù)法則化整至(1/10)a%。判斷其是否超過被檢電橋允許基本誤差。
26 半整體檢定的電橋，*大綜合誤差計算參照上述方法進行。
27 由于按元件檢定的電橋，*大綜合誤差計算比較麻煩。因此在綜合誤差計算之前先檢查檢定數(shù)據(jù)，若檢定結(jié)果中的電阻元件誤差均小于表4的規(guī)定，該電橋基本誤差肯定合格，不必再計算*大綜合誤差。
28 檢定證書或檢定結(jié)果通知書上是否給出數(shù)據(jù)規(guī)定如下：
0.005級;0.01級;0.02級給出數(shù)據(jù)
從0.05級和以下一般不給出數(shù)據(jù)
29 根據(jù)18條規(guī)定的檢定項目均合格的出具檢定證書;其中有一項不合格的出具檢定結(jié)果通知書，并在檢定結(jié)果通知書上注明不合格的情況。
29.1 初次送檢(包括缺少上一年檢定證書的、超周期送檢的和剛修理過的)電橋檢定結(jié)果合格的，出具檢定證書，但不予定級，并在檢定證書上注明：“基本誤差合格，年穩(wěn)定度未經(jīng)考察暫不定級”。
29.2 經(jīng)連續(xù)二年檢定且檢定結(jié)果均合格的，按下列四種情況處理：
29.2.1 不給出數(shù)據(jù)的電橋，出具檢定證書并定級。
29.2.2 出具數(shù)據(jù)的電橋，其年穩(wěn)定度小于或等于允許基本誤差的1/2者，出具檢定證書并定級。
29.2.3 出具數(shù)據(jù)的電橋，其年穩(wěn)定度大于允許基本誤差的1/2，但小于允許基本誤差時，出具檢定證書并定級，但檢定周期縮短為半年。
29.2.4 出具數(shù)據(jù)的電橋，其年穩(wěn)定度大于允許基本誤差時，出具檢定證書，但不予定級，并在檢定證書上注明，“年穩(wěn)定度大于允許基本誤差，不予定級”。
30 考核電橋年穩(wěn)定度時，采用整體或半整體檢定的電橋，測量盤與量程系數(shù)比分別考核;采用按元件檢定的電橋以元件電阻來考核，而不是以*大綜合誤差來考核。
31 使用中的電橋檢定結(jié)果不合格者，根據(jù)用戶申請，允許降**使用，但在降到下**時，必須全部符合該級的各項技術(shù)要求，同時仍可出具檢定證書，并在檢定證書上注明該電橋已降到的等級。
32 本規(guī)程頒布之前生產(chǎn)的、從國外早已進口的電橋(不包括進口驗收)，根據(jù)電橋外觀特征及檢定結(jié)果，按本規(guī)程技術(shù)要求進行定級，但不得高于原有的等級。
外觀特征可定的等級(級)
有效讀數(shù)位數(shù)或測量盤
六位 0.005;0.01;0.02
五位 0.02;0.05
四位以下 0.1以下
33 在檢定證書或檢定結(jié)果通知書上，應有檢定時的溫度、相對濕度、檢定周期。出具數(shù)據(jù)的電橋還應給出檢定總不確定度。
六檢定周期
34 直流電橋的檢定周期一般為一年。
附錄1直流電橋工作原理
1 單電橋
單電橋的原理線路如圖1所示，通過調(diào)節(jié)測量盤R，使指零儀指零，B、D兩點電位相等，電橋達到平衡，則R1、RX上的電壓分別等于R2、R上的電壓
兩式相除
圖1單電橋原理圖
從(3)式可知，已知R1、R2和R就可求得未知電阻RX。
對(3)式作對數(shù)并進行微分運算，可求得以下公式：
式中ξRX、ξR1、ξR、ξR-分別為RX、R1、R、R2的相對誤差。
顯然被測電阻的相對誤差取決于R1、R2、R的相對誤差，并且與線路中的熱電勢、絕緣電阻、指零儀靈敏度等因素有關(guān)。其中有些電橋的指零儀、電源是內(nèi)附的，有的是外配的。
中A、B、C、D四點稱為橋頂(有時亦稱節(jié)點)，R1、R2稱為量程變換器，R稱為測量盤。
由于單電橋中引線電阻是直接和被測電阻相串聯(lián)的，所以當被測電阻較小時，會產(chǎn)生較大的誤差。如果將被測電阻做成四端鈕結(jié)構(gòu)，如圖2所示的雙電橋線路，則被測電阻的電流引線、電位引線分別接入電流回路和較高的電阻值橋臂中去，從而減小引線電阻對被測電阻的影響。如調(diào)節(jié)測量盤R1(R1)，使電橋達到平衡，則將三角形DEF化成等值星形DEF，根據(jù)單電橋原理可得：
雙電橋原理線路圖
代入并簡化：
由(4)可知，為了使公式簡化并減少測量誤差，在結(jié)構(gòu)上組成R1=R1,R2=R′2，并盡量減小跨線電阻Rp，略去**項得
由(5)可知，若已知Rs，R1，R2，即可求得RX。對(4)式作微分運算，并取相對值可得：
顯然與單電橋一樣，被測電阻的誤差取決于各電阻元件的誤差、線路熱電勢、絕緣電阻等因素。
圖2中R1，R2為外臂，R1，R2為內(nèi)臂。
用電位差計法測量電阻可按圖1所示的線路連接，圖中以P1表示電流回路換向開關(guān);P2表示測量電壓轉(zhuǎn)換開關(guān);RX表示被測電阻。該方法是用電位差計測量被測電阻(RX)和標準電阻(RS)上的電壓降ux和us，并計算其值。當標準電阻值與電壓降之比皆為已知，則被測電阻值可按下式進行計算：
此法的特點是：連接被測電阻與電位差計之間的導線電阻和接觸電阻不會引起測量誤差，測量電阻的范圍寬，測量電阻的準確度也比較高。如用低電勢電位差計來進行測量，測量裝置的指零儀靈敏度也較高。
為了獲得較高的電阻測量準確度，還應注意以下幾點：
a.用曜閏差計測量電阻時，由標準器引入的系統(tǒng)誤差為：
式中: ξRX、ξRS-RX、RS的相對誤差;
ξUX、ξUs-電位差計測量ux、us的相對誤差。
如果比較同標稱值電阻，通過的工作電流保持恒定，使ux、us的前三位數(shù)字不變，則可達到較高的測量準確度，因為此時ξux≈ξus，那么ξRx≈ξRs，即電位差計的測量誤差幾乎不影響測量結(jié)果。
如果被檢電橋的單個電阻標稱值為1、2、3…示值，或測量盤無電位插孔(觸頭)，則測量時可利用過渡電阻箱作為標準(Rs)進行元件檢定，過渡電阻箱電位端鈕間能得到與被測電阻相同的標稱值，其余與上述相同。如果沒有過渡電阻箱，仍用標準電阻作標準，則要求Ux的示值也為1、2、3倍于us，由于ξux≠ξus，則電位差計的示值誤差就要引入，若用方和根法合成，得ξRx=±√ξR1+ξux+ξuR，ξRx應要求不超過被測電阻允許測量誤差。
b.E1、E2兩個回路電流要保持足夠的相對穩(wěn)定。
c.為減小測量回路熱電勢的影響，在電壓回路內(nèi)應選擇熱電勢較小的開關(guān)，并用同軸單股銅導線架空連接以及避免多余的接頭和動觸點。
當Rx和Rs為同標稱值時，用電位差計測量電阻，可以采用完全平衡法或不完全平衡法。上面(1)式是完全平衡法公式，下面的(3)式是不完全平衡法公式
式中: -電阻常數(shù);
ax、as-開關(guān)P2分別轉(zhuǎn)向Rx、Rs時指零儀上讀出的偏轉(zhuǎn)格數(shù);
a1、a2-求電阻常數(shù)時，分別在電位差計上示值為u1、u2時指零儀上讀得的偏轉(zhuǎn)格數(shù);
u1、u2-電位差計示值。
另外說明一下，用電位差計法測量電阻時，電位差計工作電流標準化要求不高。
1 用單電橋測量電阻元件時可按圖1的線路連接。圖中Mx表示被檢電橋，ms表示標準電橋。
對于不能按單個電阻元件測???的電橋，可用轉(zhuǎn)換法測量電阻，見附錄4。
2 用雙電橋測量電阻元件，可按圖2線路連接。
電阻Rp的測量方法如下，將橋臂R1切斷，則雙電橋轉(zhuǎn)化成為一個單電橋，Rp和Rx共處于一個橋臂，重新平衡電橋R1得R(1)，則Rp為
式中Rs-已知固定標準電阻。
在對電橋測量盤按元件檢定，而被測量盤的結(jié)構(gòu)不上允許按單個元件測量(無法獲得每個電阻元件電位觸頭)的情況下，可用與被測電阻同標稱值的標準電阻以及兩用電橋置換法進行檢定。當然也可用比較電橋、直讀電橋等其它方法進行檢定。
下面的公式推導將會看出，采用置換法進行檢定實質(zhì)上就是被測電阻元件通過電橋與標準電阻進行比較，它的測量準確度主要取決于標準電阻。而且在測量結(jié)果中不包括連接導線電阻與被測量盤的殘余電阻。
當被檢電橋測量盤單個電阻大于100Ω時，可用單電橋進行測量，如圖1。
圖中: Rs-標準電阻，其兩根電位差導線電阻應盡量相等;
Mx-被檢電橋測量盤，圖中僅畫出一個;
r-連接導線電阻;
K-開關(guān)，接觸電阻要小;
Rs-標稱值與Rs相同的輔助電阻。
此外，R0為被檢電橋測量盤的殘余電阻(圖中未畫出)。
檢定步驟
1 開關(guān)K倒向1，被檢測量盤示值置零;
2 用電橋測量得Rx0(1)
3 開關(guān)K倒向2，被檢電橋測量盤示值置1;
4 再次平衡電橋，測得Rx1
(1)-(2)移項得：
令ΔR=Rx1-Rx2
則
式中R(1)-被檢測量盤的**只電阻實際值。
根據(jù)同樣的方法可檢得被檢測量盤**至第十只電阻實際值，然后將R(1)、R(2)…R(0)相加，即為被檢測量盤各輸出點電阻累計實際值。
對于電阻值≤100Ω的測量盤，可用雙電橋置換法進行，其測量原理和步驟與單電橋相同。
Mx-被檢測量盤;
Rs-標準電阻;
M′x-輔助電阻箱。
附錄5半整體檢定及按元件檢定電橋的整體核對方法
由于半整體檢定及按元件檢定的電橋與實際使用情況不相符合，這時必須對電橋進行整體核對，整體核對的方法如下。
在被檢電橋總有效量程的電阻測量上、下限，選用比被檢電橋高二個以上準確度等級的標準電阻，接入被檢電橋測量端進行測量，測得的數(shù)據(jù)引入電橋的相應修正值，然后將引入修正值后的測量數(shù)據(jù)與標準電阻實際值相比較，它們之間的相對差值不應超過(a/2)%。
式中: R′s-在被檢電橋上測得標準電阻的數(shù)據(jù)(注意必須引入被檢電橋相應各橋臂的修正值);
Rs-標準電阻實際值，一般為標準電阻證書值(注意測量時溫度影響的修正)。
若上式>(a/2)%，則必須找出原因后重檢。
附錄6直流電橋有關(guān)名詞術(shù)語及定義
1 量程變換器
一個轉(zhuǎn)換開關(guān)或類似的裝置，靠它可將有效量程乘上一個被稱為“量程因素”或“量程倍率”的系數(shù)，如0.1。
2 有效量程
對于一個給定的量程因數(shù)，電橋能以規(guī)定準確度進行測量的*低與*高電阻值之間的阻值范圍。
3 總有效量程
使用所有量程因數(shù)都能以規(guī)定的準確度進行測量的總電阻值范圍。
4 標度盤示值
電橋平衡后的測量盤置數(shù)。
5 測量盤
據(jù)以確定測量電阻阻值的讀數(shù)盤。
6 跨線電阻
對雙電橋(“國標”稱四端式電橋)來說，作為標準電阻(RN)和被測電阻(Rx)之間，電流端連接導線電阻再加上(Rs)和(Rx)內(nèi)部的電流導線的電阻。
7 基準值
為了規(guī)定電橋的準確度，供電橋各有效量程參經(jīng)的一個單值。除非制造廠另有規(guī)定，一個給定的有效量程的基準值即為該量程*大的、10的整數(shù)冪。
8 測量端
用來連接被測電阻的端鈕。
整體檢定電橋封里格式
檢定結(jié)果
注：1 上述檢定數(shù)據(jù)的總不確定度(2σ)為允許基本誤差的1/3。
2 下次送檢時必須帶此證書(或通知書)。
按元件檢定封里格式
檢定結(jié)果
注: 1 上述檢定數(shù)據(jù)的總不確定度(2σ)為允許基本誤差折1/3。
2 下次送檢時必須帶此證書(或通知書)。
公安機關(guān)備案號：
