S4 TStar — TXRF光譜儀
產(chǎn)品簡介
數(shù)十年來,X射線熒光(XRF)光譜法在多個行業(yè)中被廣泛用于對固體和石油化工樣品進(jìn)行元素分析,檢測限值低于PPb量級。TXRF 擴(kuò)展ZXRF的應(yīng)用范圍,可以分析液體樣品、懸浮液和膜片中的超微量元素。因此,TXRF成為原子吸收光譜法(AAS)以及電感耦合等 離子體發(fā)射光譜法(ICP-OES)或質(zhì)譜法(ICP-MS)的理想的替代性方法°現(xiàn)在,S4TStar在臺式TXRF光譜儀的性能、自控和質(zhì)量 方面開創(chuàng)了新的標(biāo)準(zhǔn)。
產(chǎn)品詳細(xì)信息
檢測活***成分中的 催化元素: 液體或丸粒中的鉛含量 小于0. 1~ 0. 5ppm
糧農(nóng)組織和世衛(wèi)組織的 食品**標(biāo)準(zhǔn):可測試 大米,海產(chǎn)品,瓜果蔬 菜等里面的重金屬含量 可達(dá)到10、40ppb
環(huán)境監(jiān)測:
地表水,廢水、污泥, 土壤,空氣濾膜,核廢 液中的污染物檢出限可 達(dá)ppb量級
可分析血樣,各種組織 中的微量元素,精度與 靈敏度相當(dāng)于AAS或ICP 等分析技術(shù)
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元素范圍 |
Mo靶:鋁到鈾(Nb-Ru除外) W靶:鉀到鈾 |
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濃度 |
ppb 到 100% |
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檢測限值 |
Ni< 1 pg |
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樣品類型 |
液體、懸浮液、粉末、顆粒物、金屬、薄層、組織、晶片、 濾片等 |
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樣品量 |
液體和懸浮液,從1微升到50微升 顆粒物,直徑100微米以下;粉末,10微克以下 |
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樣品更換器 |
自動樣品更換器,10個托盤 自動托盤檢測,用于鑒別樣品類型 |
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容量 |
樣品托盤1: 30毫米盤片,*多90個盤片 樣品托盤2:顯微鏡載玻片,*多30個載玻片 樣品托盤3: 2英寸晶片,*多50個晶片 樣品托盤4:矩形,小于54毫米,*多50個樣品 樣品托盤5:用戶定義 |
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X射線管 |
*高50W,金屬陶瓷,*高50 Kv, 1mA,空氣冷卻 |
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X射線光學(xué)件 |
多層膜單色儀 |
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激發(fā)模式 |
Mo-K, 17.5 Kev W■可致輻射,35 Kev; W-L, 8.4 Kev Cu-K, 8.0 Kev Cr-K, 5.4 Kev |
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檢測器 |
珀爾帖冷卻XFIash®硅漂移檢測器 不需要液氮 探測器有效面積:60 mm2,選配:100 mn? 能量分辨率<149ev (在1 OOKcps (錠Ka),) |
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接口 |
通過TCP/IP進(jìn)行數(shù)據(jù)交換(RJ45電纜) |
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電源 |
100/240 V, 50/60 HZ |
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尺寸 |
528mmx693mmx512mm (高x寬x深) |
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重量 |
80 Kg |
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附件 |
清洗盒,用于樣品載體、存放盒 TXRF起動器套件(移液管、尖頭、試管、研缽、藥匙) |
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