日本日立X射線熒光鍍層測厚儀FT110A

概要：

自1978年以來取得傲人銷量的X射線熒光鍍層厚度測量儀的第八代產(chǎn)品FT110A。在測量精度、操作性能、軟件上有新的優(yōu)化。

通過自動定位功能，只需把樣品放在樣品臺上，便能在數(shù)秒內(nèi)自動對準觀察樣品焦點，省略了以前手動逐次對焦的操作，大幅提高了測量效果。

 

型號名稱：FT-110A

測量元素：原子序數(shù)22（Ti）~83（Bi）

檢測器：比例計數(shù)管

X射線管：管電壓：50kV    管電流：1mA

準直器：4種（Φ0.05mm、Φ0.1mm、Φ0.2mm、Φ0.025×0.4mm）

樣品觀察：CCD攝像頭（可進行廣域觀察）

X-Ray Station：電腦、19英寸液晶顯示器

膜厚測量軟件：薄膜EP法、標準曲線法

測量功能：自動測量、中心搜索

定性功能：KL標記、比較表示

使用電源：220V/7.5A

日本日立X射線熒光鍍層測厚儀FT110A

特長：

自動對焦功能 自動接近功能
   在樣品臺上放置各種高度的樣品時，只要高低差在80mm范圍內(nèi)，日本日立X射線熒光鍍層測厚儀FT110A 即可在3秒內(nèi)自動對焦被測樣品。由此進一步提高定位操作的便捷性。

    ●自動對焦功能    簡便的攝像頭對焦

    ●自動接近功能    *適合位置的對焦

通過新 薄膜FP法提高測量精度

   實現(xiàn)微小光束的高靈敏度，通過微小準直器提高了膜厚測量精度。鍍層測量時間比本公司原有機型縮短了1/2。另外，針對檢測器的特性開發(fā)了新的EP法，可進行無標樣測量。日本日立X射線熒光鍍層測厚儀FT110A 測量結果可一鍵生成報告書，簡單方便。

    ●新 薄膜EP法    

      減少檢量線制作的繁瑣程度、實現(xiàn)了設定測量條件的簡易化

      無標樣測量方法可進行*多5層的膜厚測量

    ●自動對焦功能和距離修正功能    

      凹凸落差的樣品可通過薄膜EP法做成的相同測定條件進行測量

    ●靈敏度提高

      鍍層測量時間比本公司原有機型縮短了1/2

    ●生成報告功能

      一鍵生成測量報告書

廣域樣品觀察

日本日立X射線熒光鍍層測厚儀FT110A 對測量平臺（250mm*200mm）上放置的樣品拍攝一張靜態(tài)畫面后，可在獲取的廣域觀察圖像上指定狹域的觀察位置。由此，可大幅減少多數(shù)測量點位置的選取時間，以及在圖像上難以尋找的特定點位置的選定時間。

●廣域圖像觀察    輕松定位