CMI900 X熒光測厚儀 CMI900
產(chǎn)品簡介
CMI900 X熒光鍍層測厚儀 CMI900 是一款性價(jià)比極高的臺式 X 射線熒光光譜儀,應(yīng)用于涂鍍層厚度測量及材料成分分析。 高性能X射線熒光光譜儀 快速**的分析:正比計(jì)數(shù)探測器和50瓦微焦X射線管,大大提高了靈敏度 簡單的元素區(qū)分:二次光束過濾器可以分離重疊元素 性能優(yōu)化,測量元素范圍廣: 可預(yù)設(shè)參數(shù),CMI900 提供800多種預(yù)設(shè)應(yīng)用參數(shù)/方法 杰出的長期穩(wěn)定性: 自動熱補(bǔ)償測
產(chǎn)品詳細(xì)信息
CMI900 X熒光鍍層測厚儀
CMI900是一款性價(jià)比極高的臺式 X 射線熒光光譜儀,應(yīng)用于涂鍍層厚度測量及材料成分分析。
高性能X射線熒光光譜儀
快速**的分析:正比計(jì)數(shù)探測器和50瓦微焦X射線管,大大提高了靈敏度
簡單的元素區(qū)分:二次光束過濾器可以分離重疊元素
性能優(yōu)化,測量元素范圍廣: 可預(yù)設(shè)參數(shù),CMI900 提供800多種預(yù)設(shè)應(yīng)用參數(shù)/方法
杰出的長期穩(wěn)定性: 自動熱補(bǔ)償測量儀器溫度,糾正變化,提供穩(wěn)定的結(jié)果
簡單快速的光譜校準(zhǔn),定期檢查儀器性能(如靈敏度),并提供必要的糾正
堅(jiān)固耐用的設(shè)計(jì)
可以在實(shí)驗(yàn)室或生產(chǎn)線上操作
堅(jiān)固的工業(yè)設(shè)計(jì)
經(jīng)行業(yè)驗(yàn)證的技術(shù),在全球銷售量超過3000臺
電子元件行業(yè):
有效調(diào)整生產(chǎn)過程,從而提高生產(chǎn)力
確保元件可靠性
測量焊料合金成份和鍍層厚度
優(yōu)化質(zhì)量控制,從而確保產(chǎn)品生命周期
分析導(dǎo)電性鍍層金和鈀的厚度
測量電腦硬盤上的NiP層厚度
五金電鍍行業(yè):
電鍍處理的成本*小化,產(chǎn)量*大化
快速簡單的分析
同時(shí)進(jìn)行單層或多層鍍層厚度測量及成份分析
*多可分析4層(不包括基層)
鍍液成份分析
金屬合金行業(yè):
珠寶及其他合金的快速無損分析
貴金屬合金分析
黃金純度分析
材料鑒定
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