RoHS檢測(cè)儀器 BX-806
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
RoHS檢測(cè)儀器能量色散X射線熒光光譜儀● 分析元素范圍 Cl-U● 分析元素的濃度范圍 ppm—100%● 整機(jī)穩(wěn)定性連續(xù)8小時(shí)測(cè)RSD<0.25%● ROHS/WEEE檢測(cè)時(shí)間100-120秒● 樣品類型: 固體,液體,粉末,鍍層及其他..
產(chǎn)品詳細(xì)信息
● 電制冷Si(Pin) 探測(cè)器 晶體面積15mm2 分辨率<155eV
● 全數(shù)字脈沖處理器技術(shù)
● 優(yōu)異的峰背比、極高的痕量分析靈敏度
● 50KV,50瓦,自防護(hù)X-射線管
● 多濾光片智能識(shí)別技術(shù)
● 鍍層和薄膜測(cè)量技術(shù)
● 高性能,操作簡(jiǎn)便的XRF軟件
RoHS檢測(cè)儀器主要特點(diǎn)
● 分析元素范圍 Cl-U
● 分析元素的濃度范圍 ppm—100%
● 整機(jī)穩(wěn)定性連續(xù)8小時(shí)測(cè)RSD<0.25%
● ROHS/WEEE檢測(cè)時(shí)間100-120秒
● 樣品類型: 固體,液體,粉末,鍍層及其他..
應(yīng)用領(lǐng)域
● 應(yīng)對(duì)RoHS & WEEE 指令分析
● 各種金屬膜厚度測(cè)量、工業(yè)鍍層厚度測(cè)量
● 鹵素指令Cl元素分析
● 礦石、原材料成份分析等
● 磁性磁性介質(zhì)和半導(dǎo)體,各種合金、貴金屬成份分析
● 全數(shù)字脈沖處理器技術(shù)
● 優(yōu)異的峰背比、極高的痕量分析靈敏度
● 50KV,50瓦,自防護(hù)X-射線管
● 多濾光片智能識(shí)別技術(shù)
● 鍍層和薄膜測(cè)量技術(shù)
● 高性能,操作簡(jiǎn)便的XRF軟件
RoHS檢測(cè)儀器主要特點(diǎn)
● 分析元素范圍 Cl-U
● 分析元素的濃度范圍 ppm—100%
● 整機(jī)穩(wěn)定性連續(xù)8小時(shí)測(cè)RSD<0.25%
● ROHS/WEEE檢測(cè)時(shí)間100-120秒
● 樣品類型: 固體,液體,粉末,鍍層及其他..
應(yīng)用領(lǐng)域
● 應(yīng)對(duì)RoHS & WEEE 指令分析
● 各種金屬膜厚度測(cè)量、工業(yè)鍍層厚度測(cè)量
● 鹵素指令Cl元素分析
● 礦石、原材料成份分析等
● 磁性磁性介質(zhì)和半導(dǎo)體,各種合金、貴金屬成份分析
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- 會(huì)員等級(jí): 免費(fèi)會(huì)員
- 注冊(cè)時(shí)間: 2009-10-14
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