X-RAY熒光測(cè)厚儀 X-RAY XULM
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
X-RAY熒光測(cè)厚儀、X射線熒光法是高效的材料分析工具。它廣泛應(yīng)用于鍍層厚度測(cè)量,同時(shí)也適于進(jìn)行元素分析。 X-RAY熒光測(cè)厚儀|x射線測(cè)厚儀|x熒光光譜儀|熒光光譜分析可以對(duì)幾乎任意尺寸和狀態(tài)的工件進(jìn)行分析。粉末和糊狀材料可以和固體或液體一樣進(jìn)行分析。
產(chǎn)品詳細(xì)信息
X-RAY熒光測(cè)厚儀|x射線測(cè)厚儀|x熒光光譜儀|熒光光譜分析FISCHERSCOPE® X-RAY XULM®型以及FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® XYm型X射線光譜儀簡(jiǎn)介
FISCHERSCOPE®-X-RAY XULM是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀,它結(jié)構(gòu)緊湊,小巧耐用。它們十分適用于無(wú)損測(cè)量細(xì)小零部件上的鍍層厚度和成分分析。
為了使每次測(cè)量都能在優(yōu)先的條件下進(jìn)行,XULM配備了可電動(dòng)調(diào)整的多種準(zhǔn)直器及基本濾片。
比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率,這樣就可以進(jìn)行高精度測(cè)量。由于采用了Fischer基本參數(shù)法,無(wú)論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品,都能在沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行準(zhǔn)確分析和測(cè)量。可測(cè)量的元素范圍從氯(17)到鈾(92)。
XULM型X射線光譜儀有著良好的長(zhǎng)期穩(wěn)定性,這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。
本款儀器特別適合用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:
微小零部件、接插件和線材上鍍層厚度的測(cè)量
印制線路板上手動(dòng)測(cè)量
珠寶手表業(yè)中的鍍層厚度測(cè)量及成分分析
FISCHERSCOPE® X-RAY XULM系列X-RAY熒光測(cè)厚儀|x射線測(cè)厚儀|x熒光光譜儀|熒光光譜分析設(shè)計(jì)理念
FISCHERSCOPE X-RAY XULM設(shè)計(jì)為界面友好、結(jié)構(gòu)緊湊的臺(tái)式測(cè)量?jī)x器系列。根據(jù)使用用途,有以下兩種不同版本型號(hào),分別對(duì)應(yīng)不同樣品平臺(tái):
XULM: 固定平面平臺(tái)
XULM XYm: 手動(dòng)X/Y平臺(tái)
高分辨的彩色攝像頭配以強(qiáng)大的放大功能,可以***定位測(cè)量位置。
盡管儀器本身結(jié)構(gòu)緊湊,但是由于XULM光譜儀配備了寬敞的測(cè)量室,從而可以測(cè)量更大體積的樣品。
外罩底部留下了空隙,可方便地測(cè)量超出測(cè)量室大小的大尺寸扁平樣品,如大面積的印制線路板等。
通過(guò)強(qiáng)大且界面友好的WinFTM®軟件,可以在電腦上便捷地完成整個(gè)測(cè)量過(guò)程,包括測(cè)量結(jié)果的數(shù)據(jù)分析和所有相關(guān)信息的顯示等。
XULM型光譜儀是型式許可符合德國(guó)”Deutsche R?ntgenverordnung-R?V“法令要求的,有完善防護(hù)措施的測(cè)量?jī)x器。
FISCHERSCOPE® X-RAY XULM系列X-RAY熒光測(cè)厚儀|x射線測(cè)厚儀|x熒光光譜儀|熒光光譜分析之通用規(guī)范
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用途 |
能量色散X射線熒光光譜儀 (EDXRF) 用于測(cè)量鍍層厚度和材料分析 |
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可測(cè)量元素范圍 |
從氯(17)到鈾(92),如使用選配的WinFTM® BASIC,可*多同時(shí)測(cè)量24種元素 |
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設(shè)計(jì)理念 |
臺(tái)式儀器,測(cè)量門向上開啟 |
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測(cè)量方向 |
由下往上 |
FISCHERSCOPE® X-RAY XULM系列X-RAY熒光測(cè)厚儀|x射線測(cè)厚儀|x熒光光譜儀|熒光光譜分析之X射線源
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X射線靶材 |
帶鈹窗口的鎢靶微聚焦射線管 |
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高壓 |
三種可調(diào)高壓:30 kV,40 kV,50 kV |
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孔徑(準(zhǔn)直器) |
4個(gè)可切換準(zhǔn)直器:
標(biāo)準(zhǔn)型(523-440):圓形? 0.1mm;? 0.2mm;矩形0.05 x 0.05mm;0.2 x 0.03mm
可選 (523-366):圓形? 0.1mm;? 0.2mm;? 0.3 mm;矩形0.3 x 0.05 mm
可選 (524-061):圓形? 0.1mm;? 0.2mm;矩形0.3 x 0.05 mm;0.05 x 0.05mm
可按要求定制其它規(guī)格 |
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基本濾片 |
3種可切換的基本濾片(標(biāo)準(zhǔn)型:鎳,無(wú),鋁) |
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測(cè)量點(diǎn)大小 |
取決于測(cè)量距離和使用的準(zhǔn)直器的大小,視頻窗口中顯示的就是實(shí)際的測(cè)量點(diǎn)尺寸,使用矩形0.05 x 0.05mm準(zhǔn)直器,*小的測(cè)量點(diǎn)面積約為? 0.1 mm。 |
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測(cè)量距離,如樣品為腔體時(shí) |
使用***保護(hù)的DCM(測(cè)量距離補(bǔ)償法)功能:
測(cè)量距離為0 ~ 20 mm時(shí),為已校準(zhǔn)范圍;
測(cè)量距離為20 ~ 27.5 mm,為非校準(zhǔn)范圍。 |
X射線探測(cè)器
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X射線接收器 |
比例接收器 |
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二次濾波器 |
可選:鈷濾波器或鎳濾波器 |
樣品定位
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視頻顯微鏡 |
高分辨 CCD彩色攝像頭,可用來(lái)觀察測(cè)量位置 十字線刻度和測(cè)量點(diǎn)大小經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)
測(cè)量區(qū)域的LED照明亮度可調(diào)節(jié) |
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放大倍數(shù) |
38 x ~184x (光學(xué)變焦: 38x ~ 46x; 數(shù)字變焦: 1x, 2x, 3x, 4x) |
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樣品臺(tái) |
XULM |
XULM XYm |
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設(shè)計(jì) |
固定樣品平臺(tái) |
手動(dòng)XY平臺(tái) |
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X/Y方向*大可移動(dòng)范圍 |
- |
50 x 50 mm |
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樣品放置可用區(qū)域 |
250 x 280mm |
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樣品*大重量 |
2kg |
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樣品*高高度 |
240mm |
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FISCHERSCOPE® X-RAY XULM系列X-RAY熒光測(cè)厚儀|x射線測(cè)厚儀|x熒光光譜儀|熒光光譜分析之電氣參數(shù) |
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電壓,頻率 |
AC 115 V 或 AC 230 V 50 / 60 Hz |
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功率 |
*大為 120 W (測(cè)量頭重量,不包括計(jì)算機(jī)) |
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保護(hù)等級(jí) |
IP40 |
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儀器規(guī)格 |
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外部尺寸 |
寬x深x高[mm]:395 x 580 x 510 |
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重量 |
約45 kg |
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內(nèi)部測(cè)量艙尺寸 |
寬x深x高[mm]:360 x 380 x 240 |
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環(huán)境要求 |
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測(cè)量時(shí)溫度 |
10°C – 40°C / 50°F – 104°F |
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存儲(chǔ)或運(yùn)輸時(shí)溫度 |
0°C – 50°C / 32°F – 122°F |
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空氣相對(duì)濕度 |
≤ 95 %,無(wú)結(jié)露 |
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計(jì)算系統(tǒng) |
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計(jì)算機(jī) |
帶擴(kuò)展卡的Windows®個(gè)人計(jì)算機(jī)系統(tǒng) |
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軟件 |
標(biāo)準(zhǔn)配置:Fischer WinFTM® LIGHT |
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可選配置:Fischer WinFTM® BASIC, PDM®, SUPER |
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執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) |
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CE合格標(biāo)準(zhǔn) |
EN 61010 |
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X射線標(biāo)準(zhǔn) |
DIN ISO 3497和 ASTM B 568 |
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型式許可 |
型式許可符合德國(guó)”Deutsche R?ntgenverordnung-R?V“法令要求的,有完善防護(hù)措施的測(cè)量?jī)x器。 |
FISCHERSCOPE® X-RAY XULM系列X-RAY熒光測(cè)厚儀|x射線測(cè)厚儀|x熒光光譜儀|熒光光譜分析如有特殊要求,可與Fischer磋商,定制特殊的XULM型號(hào)。
其他 相關(guān)儀器:鐵素體測(cè)量?jī)x,高斯計(jì),張力儀,扭力測(cè)量儀,沖擊試驗(yàn)機(jī),扭轉(zhuǎn)疲勞試驗(yàn)機(jī),電子萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī),彈簧試驗(yàn)機(jī),金屬電導(dǎo)率儀,人造板試驗(yàn)機(jī),車輛測(cè)試設(shè)備
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