平面平晶45mm 45mm
產(chǎn)品簡介
平面平晶45mm用于以干涉法測量塊規(guī),以及檢驗塊規(guī)、量規(guī)、零件密封面測量儀器及測量工具量面的研合性和平面度的工具。使用于光學(xué)加工廠、廠礦企業(yè)計量室、精密加工車間、閥門密封面現(xiàn)場檢測使用,也適用于高等院校、科學(xué)研究等單位做平面度等檢測
產(chǎn)品詳細信息
平面平晶45mm具有兩個(或一個)光學(xué)測量平面的正圓柱形或長方形的量規(guī)。光學(xué)測量平面是表面粗糙度數(shù)值和平面度誤差都極小的玻璃平面,它能夠產(chǎn)生光波干涉條紋(見激光測長技術(shù))。
平面平晶用于測量高光潔表面的平面度誤差,為用平面平晶檢驗量塊測量面的平面度誤差。平行平晶的兩個光學(xué)測量平面是相互平行的,用于測量兩高光潔表面的平行度誤差,例如千分尺兩測量面的平行度誤差.平晶用光學(xué)玻璃或石英玻璃制造。
平面平晶45mm用途:
平面平晶是用于以干涉法測量塊規(guī),以及檢驗塊規(guī)、量規(guī)、零件密封面測量儀器及測量工具量面的研合性和平面度的工具。使用于光學(xué)加工廠、廠礦企業(yè)計量室、精密加工車間、閥門密封面現(xiàn)場檢測使用,也適用于高等院校、科學(xué)研究等單位做平面度等檢測
平面平晶45mm標準規(guī)格尺寸: 單位:mm
|
規(guī)格
|
30
|
45
|
60
|
80
|
100
|
150
|
200
|
250
|
300
|
|
直徑
|
Φ30
|
Φ45
|
Φ60
|
Φ80
|
Φ100
|
Φ150
|
Φ200
|
Φ250
|
Φ300
|
|
高度
|
15
|
15
|
20
|
20
|
25
|
30
|
40
|
45
|
45
|
特殊規(guī)格尺寸平面平晶,環(huán)形平面平晶,方形平面平晶,方形平面平晶可定做
平面平晶技術(shù)參數(shù):
平面平晶制成精度:1級
平面平晶工作面的平面度編差允許值為
平面平晶工作面的平面度編差允許值為
|
直徑
|
30-100MM
|
1級平晶
|
0.03 um
|
|
直徑
|
100-300MM
|
1級平晶
|
0.05 um
|
更大尺寸平面度偏差允許值根據(jù)國家標準。
平面平晶工作面的局部偏差允許值為0.03 um。
平面平晶測量工作應(yīng)在20℃±3℃條件下保持數(shù)小時后進行。
注:Φ200MM以上標準平面平晶、環(huán)形平面平晶需定做
- 新加產(chǎn)品 | 公司介紹
- 會員等級: 免費會員
- 注冊時間: 2008-09-02
- 聯(lián) 系 人:
- 聯(lián)系電話:
- 傳真號碼:
- * 請告知從易展網(wǎng)看到產(chǎn)品,可獲得優(yōu)惠
- 查看聯(lián)系方式 進入產(chǎn)品頁面


公安機關(guān)備案號:



