光切法顯微鏡 9J
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
光切法顯微鏡 用途:本儀器以光切法測(cè)量零件加工表面的微觀不平度。其能判別國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB1031-68所規(guī)定▽3-▽9級(jí)表面光潔度(表面粗糙度)對(duì)于表面劃痕、刻線或某些缺陷的深度也可用來(lái)進(jìn)行測(cè)量。光切法特點(diǎn)是在不破壞表面的關(guān)況下進(jìn)行的。是一種間接測(cè)量方法。即要經(jīng)過計(jì)算后才能確定紋痕的不平度。
產(chǎn)品詳細(xì)信息
技術(shù)規(guī)格:
1.測(cè)量范圍不平度平均高度值(微米):>0.8~1.6、>1.6~6.3、>6.3~20、>20~80
2.表面光潔度級(jí)別:9、8~7、6~5、4~3
3.所需物鏡:60倍N.A.0.55、30倍N.A.0.40、14倍N.A.0.20、7倍N.A.0.12
4.總放大倍數(shù):510倍、260倍、120倍、60倍
5.物鏡組件工作距離(毫米):0.04、0.2、2.5、9.5
6.視場(chǎng)(毫米):0.3、0.6、1.3、2.5
光切法顯微鏡 用途:本儀器以光切法測(cè)量零件加工表面的微觀不平度。其能判別國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB1031-68所規(guī)定▽3-▽9級(jí)表面光潔度(表面粗糙度)對(duì)于表面劃痕、刻線或某些缺陷的深度也可用來(lái)進(jìn)行測(cè)量。光切法特點(diǎn)是在不破壞表面的關(guān)況下進(jìn)行的。是一種間接測(cè)量方法。即要經(jīng)過計(jì)算后才能確定紋痕的不平度。
- 新加產(chǎn)品 | 公司介紹
- 會(huì)員等級(jí): 免費(fèi)會(huì)員
- 注冊(cè)時(shí)間: 2005-05-09
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