Q2 全譜火花直讀光譜儀 Q2 ION
產(chǎn)品簡介
Q2 全譜火花直讀光譜儀是現(xiàn)今市場上*為輕巧的高性能直讀光譜儀。源自顛覆性的設(shè)計理念,緊湊的體積和強大的分析功能得以**地融合。Q2 ION可同時配備多種基體,適用于金屬行業(yè)中的來料檢驗及質(zhì)量控制。Q2在許多應(yīng)用,例如鐵基、鋁基和銅基材料的分析中涵蓋所有的重要元素,能夠很好地滿足中小鑄造企業(yè),金屬加工企業(yè),質(zhì)量管理部門,原料堆放倉庫,金屬回收企業(yè),甚至檢測機構(gòu)的分析要求.
產(chǎn)品詳細信息
Q2全譜火花直讀光譜儀
Q2 全譜火花直讀光譜儀儀器介紹
2010年5月11日,值2010中國國際鑄造博覽會在北京新國際展覽中心舉行之際,高性能、緊湊型Q2 ION直讀光譜儀隆重發(fā)布,德國Bruker Elemental GmbH總經(jīng)理Andreas Kunz先生、亞太地區(qū)銷售總監(jiān)Yong Teck Lee先生以及利曼中國(Leeman China)總經(jīng)理黃林玉先生、產(chǎn)品經(jīng)理陳應(yīng)華先生共同主持了新產(chǎn)品發(fā)布。
這款是現(xiàn)今市場上*為輕巧的高性能直讀光譜儀。Q2 全譜火花直讀光譜儀源自顛覆性的設(shè)計理念,緊湊的體積和強大的分析功能得以**地融合。可同時配備多種基體,適用于金屬行業(yè)中的來料檢驗及質(zhì)量控制。Q2在許多應(yīng)用,例如鐵基、鋁基和銅基材料的分析中涵蓋所有的重要元素,能夠很好地滿足中小鑄造企業(yè),金屬加工企業(yè),質(zhì)量管理部門,原料堆放倉庫,金屬回收企業(yè),甚至檢測機構(gòu)的分析要求.
Q2 全譜火花直讀光譜儀主要特點
它的的設(shè)計使得Q2 ION的重量只有不到20kg,可輕易攜帶到周邊的場所進行現(xiàn)場分析工作。除此之外,儀器還有專用配套的行李箱可供用戶選擇,以方便儀器的攜帶及運輸。
它采用了*新**技術(shù)—平面視場CCD光學(xué)系統(tǒng),該技術(shù)使得Q2 ION的設(shè)計突破了傳統(tǒng)光譜的桎梏。光學(xué)系統(tǒng)所配備的動態(tài)溫度補償技術(shù)(AAC),確保儀器即便在10°C至45°C之間的外界溫度變化下也具有極其優(yōu)異的穩(wěn)定性。
它采用了*新**技術(shù)—平面視場CCD光學(xué)系統(tǒng),該技術(shù)使得Q2 ION的設(shè)計突破了傳統(tǒng)光譜的桎梏。光學(xué)系統(tǒng)所配備的動態(tài)溫度補償技術(shù)(AAC),確保儀器即便在10°C至45°C之間的外界溫度變化下也具有極其優(yōu)異的穩(wěn)定性。
Q2 全譜火花直讀光譜儀**點
Q2 全譜火花直讀光譜儀采用了許多*新的技術(shù),是一臺科技含量非常高的儀器,主要有以下幾個方面。
(1)平面視場CCD光學(xué)系統(tǒng)
Q2直讀光譜儀采用了布魯克的*新**技術(shù)——平面視場CCD光學(xué)系統(tǒng),通過該技術(shù)可以直接將色散后的所有譜線聚焦于線狀CCD上,并完整收集所有譜線信息。此外Q2使用的是*新一代的非鍍膜CCD檢測器,該檢測器性能不會受涂層的影響,并可以延長使用壽命。
(2)動態(tài)溫度補償技術(shù)
在Q2直讀光譜儀中還采用了一項新技術(shù)——動態(tài)溫度補償技術(shù)(AAC),在光譜儀的設(shè)計中,保證所有材料的熱脹冷縮系數(shù)嚴格匹配,確保了儀器即便在10℃至45℃的外界溫度變化下也具有極其優(yōu)異的穩(wěn)定性,該技術(shù)的應(yīng)用簡化了儀器結(jié)構(gòu),提升了儀器性能,開創(chuàng)了光譜儀全新的設(shè)計理念。
(1)平面視場CCD光學(xué)系統(tǒng)
Q2直讀光譜儀采用了布魯克的*新**技術(shù)——平面視場CCD光學(xué)系統(tǒng),通過該技術(shù)可以直接將色散后的所有譜線聚焦于線狀CCD上,并完整收集所有譜線信息。此外Q2使用的是*新一代的非鍍膜CCD檢測器,該檢測器性能不會受涂層的影響,并可以延長使用壽命。
(2)動態(tài)溫度補償技術(shù)
在Q2直讀光譜儀中還采用了一項新技術(shù)——動態(tài)溫度補償技術(shù)(AAC),在光譜儀的設(shè)計中,保證所有材料的熱脹冷縮系數(shù)嚴格匹配,確保了儀器即便在10℃至45℃的外界溫度變化下也具有極其優(yōu)異的穩(wěn)定性,該技術(shù)的應(yīng)用簡化了儀器結(jié)構(gòu),提升了儀器性能,開創(chuàng)了光譜儀全新的設(shè)計理念。
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