DUALSCOPE® MP0 涂層測(cè)厚儀原版技術(shù)參數(shù)涂鍍層測(cè)厚儀DUALSCOPE® MP0—在鐵磁性及非鐵磁性金屬上簡(jiǎn)便、高精度測(cè)量涂鍍層厚度的理想選擇新款DUALSCOPE®MP0采用廣受認(rèn)可的Fischer探頭技術(shù)，是*為小巧并能*大程度滿足您測(cè)量需要的儀器。它測(cè)量精度高、界面友好且結(jié)實(shí)耐用。對(duì)不復(fù)雜工件的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量尤為理想。內(nèi)置探頭，采用磁感應(yīng)及電渦流方法，可快速無損地測(cè)量涂鍍層厚度。DUALSCOPE®MP0自動(dòng)識(shí)別基材例如鐵或鋁并選擇適合的測(cè)量方法?？娠@示*重要的統(tǒng)計(jì)參數(shù)。由于有著出色的重復(fù)精度及統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)功能，使得這款儀器在同級(jí)別產(chǎn)品中****。袖珍儀器中的**技術(shù)DUALSCOPE®MP0有以下技術(shù)特點(diǎn)及優(yōu)勢(shì)：• 可在所有的金屬（鋼鐵或非鐵磁性金屬）基材上測(cè)量<
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