Felles 顯微薄膜測量儀 FR-uProbe
產(chǎn)品簡介
Felles 顯微薄膜測量儀是一款超級緊湊而功能多樣的薄膜測試儀系統(tǒng),可以結(jié)合顯微鏡測量薄膜的吸收率,透過率,反射率以及測量點的熒光。Felles 顯微薄膜測量儀通過反射率的測量,測量點處的薄膜厚度,薄膜光學(xué)常量(n &k)以及thick film stacks都能在瞬間測量出來。
產(chǎn)品詳細(xì)信息
Felles 顯微薄膜測量儀特點
光柵光譜儀(200-1100nm)+顯微鏡目鏡 適配器+軟件+顯微鏡(可選)。
其中目鏡適配器包含鏡頭,可增加光的收集。
標(biāo)準(zhǔn)的40X物鏡可做到測量點直徑約200微米。
更高倍數(shù)的物鏡的測量點更小。
整套薄膜測量儀和薄膜測試儀到貨即可使用,
僅僅需要用戶準(zhǔn)備一臺計算機(jī)提供USB接口即可,操作非常方便。
Web: www.felles.cn (激光光學(xué)精密儀器官網(wǎng))
www.felles.cc (綜合性**測試儀器官網(wǎng))
www.f-lab.cn (綜合性實驗室儀器官網(wǎng))
這款薄膜測試儀配備專業(yè)的儀器控制,光譜測量和薄膜測量功能的軟件,具有廣闊的應(yīng)用范圍。該薄膜厚度測試儀軟件能夠?qū)崟r采集吸收率,透過率,反射率和熒光光譜,并且能夠能夠快速計算出結(jié)果。
對于吸收率/透過率模式的配置,所有的典型參數(shù)如 A, T可快速計算出來。其他的非標(biāo)準(zhǔn)參數(shù),如signal integration也能測量出來。
對于反射率測量,該薄膜厚度測試儀軟件能夠**測量膜層小于10層薄膜厚度(《10nm到100微米), 光學(xué)常量(n & k)。
Felles 顯微薄膜測量儀標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)
可測膜厚: 10nm-150微米;
波長范圍:200-1100nm
精度:0.5%
分辨率:0.02nm
光源:使用顯微鏡光源
光斑大?。河娠@微鏡物鏡決定
計算機(jī)要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;
尺寸:120x120x120mm
重量:1.2kg
Felles 顯微薄膜測量儀應(yīng)用
測量薄膜吸收率,透過率
測量化學(xué)薄膜和生物薄膜測量
光電子薄膜結(jié)構(gòu)測量
半導(dǎo)體制造
聚合物測量
在線測量
光學(xué)鍍膜測量
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